文档介绍：数字电子技术实验
实验室: 电气楼310
电 话: 51688346
课程性质及目的：
课程主要内容：
基本要求：
将理论知识付诸实践，掌握集成器件的性能、应用和数字电路的设计方法，在实践中深化理论，发现问题，总结规律，培养独立思考，独立解决问题的能力。
预****报告；按时参加；大胆实践；认真总结，完成报告。
数字电子技术实验
基础实验（逻辑门参数测试，触发器等）；设计实验（可控加减法器，计数器，A/D与D/A转换电路应用，555定时电路）；综合性实验（数字函数发生器，简易交通灯电路设计，多功能流水灯）；总计24学时
成绩评定：
预****30%；过程40%；报告20%；综合10%。
数字电子技术实验
1、TTL与CMOS集成逻辑门的参数测试 [7周(2) ]
2、可控加减法设计 [8周 (2)]
3、数字函数发生器 [9-10周(4) ]
4、触发器及其应用 [11周(2)]
5、计数器的设计与应用 [12周 (2) ]
6、简易交通灯控制电路 [13、14周 (4)]
7、 A/D、D/A转换电路应用设计 [15周(2) ]
8、 555定时电路 [16周(2)]
9、多功能流水灯 [17、18周(4)]
数字电路实验项目及教学计划
数字电子技术实验
数字电路实验系统简介
实验一 TTL与CMOS集成逻辑门的参数测试
实验目的：
掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义和测试方法；
加深对TTL和CMOS集成逻辑门逻辑功能的认识；
了解集成逻辑门电路的外特性。
实验仪器及器件：
（1）数字电路实验系统；
（2）万用表、示波器、信号源；
（3）TTL与非门74LS00， CMOS与非门74HC00；
（4）可变电阻器等。
实验一 TTL与CMOS集成逻辑门的参数测试
实验内容：
1、 TTL与CMOS与非门逻辑功能测试。
记录测试结果，比较TTL与CMOS与非门输出高低电平的电压值。
7400外引脚排列
7410外引脚排列
7420外引脚排列
实验内容：
实验一 TTL与CMOS集成逻辑门的参数测试
2、 TTL与CMOS与非门主要参数测试。（选作）
3、 TTL与非门电压传输特性测试。
分别用静态测试和动态测试的方法测试与非门的电压传输特性，记录测试数据，绘出电压传输特性曲线，并读取UOH、UOL、UOFF、UON、UT等特性参数。
TTL与非门输入电压UI与输出电压UO之间的关系曲线，即 UO = f（UI）。
静态测试方法
实验一 TTL与CMOS集成逻辑门的参数测试
3、 TTL与CMOS与非门电压传输特性测试。
实验内容：
截止区：当UI≤，Ub1≤，T2、T5截止，输出高电平UOH = 。
线性区：≤UI≤，≤U b2＜，T2导通，T5仍截止，UC2随Ub2升高而下降，经T4射随器使UO下降。
饱和区：UI继续升高，T1进入倒置工作状态，此时T2、T5饱和，T4截止，输出低电平UOL = ，且UO不随UI的增大而变化。
转折区：当UI≥，输入电压略微升高，输出电压急剧下降，因为T2、T4、T5均处于放大状态。
3、 TTL与CMOS与非门电压传输特性测试。
实验内容：
动态测试方法
实验一 TTL与CMOS集成逻辑门的参数测试
4、测试与非门的输入负载特性和输出负载特性。（选作）