文档介绍：实验十组合逻辑电路的分析一、实验目的应用门电路设计各种组合逻辑电路,掌握组合逻辑电路的功能测试。二、实验仪器 台编号为 RT SD-4 的数字电路实验箱 块编号为 UT70A 的数字万用表 片编号为 74LS86 的异或门集成块 片编号为 74LS00 的与非门集成块三、实验内容 1. 异或门功能测试 2. 与非门功能测试 3. 由与非门组成的半加器的逻辑功能测试 4. 由与非门和异或门组成的半加器的逻辑功能测试四、实验原理图 AB Y 12 3& AB Y =1 12 3 图 10-1 与非门逻辑功能测试图 10-2 异或门逻辑功能测试 3B 1A1B 1(1) 1Y& 3B 2Y&3B 3Y& 3B 4Y& AB 3B 5Y& 1(2) 1(3) 2A2B4A4B5A5B 3A3B 1(4)1(5)1(9)1( 10) 1( 12)1( 13)2(1)2(2) 2(3) 1( 11) 1(6)1(8) (2)(3) (4)(5) (1) SC 图 10-3 由与非门组成的半加器原理图 AB 1A SC 1B 1Y=1 12 3 2A2B 2Y& 45 63B 3A3B 9 10 3Y& 8 图 10-4 异或门和与非门组成的半加器在上面的各个原理图中, A、B 为输入端,分别接实验箱电平开关;Y、S、C 为输出端, 分别接实验箱电平显示灯。五、实验过程 1. 实验准备(a) 熟悉编号为 74LS00 的集成块和编号为 74LS 86 的集成块: 74LS00 是含有 4个2输入与非门的集成块, 管脚定义如图 10-5 所示。第 14 管脚是电源管脚,第7 管脚需要接地; 74LS86 是含有 4个2 输入异或门的集成块, 管脚定义如图 10-6 所示。第 14 管脚是电源管脚,第7 管脚需要接地。 14 13 12 118 109 12347 56 & && 4B4A4Y3B3A3Y2Y 1A1B1Y2A2B地&图 10-5 两输入与非门 74L S 00 管脚图 14 13 12 118 109 12347 56 4B4A4Y3B3A3Y2Y 1A1B1Y2A2B地=1 =1 =1=1图 10-6 两输入异或门 74LS86 管脚图(b) 为了方便电路连线,对原理图中每个信号均进行管脚编号。例如:在图 10-1中, 与非门的输出信号 Y 的编号为 3 ,表示 Y 对应集成块 74LS00 的第 3号管脚。又如: 在图 10- 3 中, 输出信号 S 的编号为 1 (11) ,表示 S 对应第1片 74LS00 的第 11号管脚。输出信号 C 的编号为 2 (3) ,表示 C 对应第2片 74LS00 的第 3号管脚。(c) 打开数字电路实验箱的盖子, 接好实验箱的电源线, 断开电源开关, 在实验箱上配好 2片 74LS00 和1片 74LS 86。 2. 与非门功能测试的实验过程(1) 按照原理图 10-1 连线(a) 图中用到了 1个与非门,需要 1 片编号为 74LS00 的集成块,在实验箱上选取 1片 74LS00 , 用导线将它的第 14 管脚和+5V 电源相连,第7 管脚和实验箱+5V 电源的地线相连。(b) 与非门的输入端 A和B 连接实验箱的电平开关,即分别用导线将 74LS00 的第 1 管脚、第