文档介绍：...wd...
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...w，因此光可通过偏振片射出〕；假设入射线偏振光偏振方向垂直于上外表分子轴方向，出射时，线偏振光方向亦垂直于下外表液晶分子轴；当以其他线偏振光方向入射时，则根据平行分量和垂直分量的相位差，以椭圆，圆，或直线等某种线偏振光形式射出。
对液晶盒施加电压，当到达某一数值时，液晶分子长轴开场沿电场方向倾斜，电压继续增加到另一数值时，除附着在液晶盒上下外表的液晶分子外，所有液晶分子长轴都按电场方向进展重排列〔见图1中通电局部〕，TN型液晶盒900旋光性随之消失。
假设将液晶盒放在两片平行偏振片之间，其偏振方向与外表液晶分子取向一样。不加电压时，入射光通过起偏器形成的线偏振光，经过液晶盒后偏振方向随液晶分子轴旋转900，不能通过检偏器；施加电压后，透过检偏器的光强与施加在液晶盒上电压大小的关系见图3；其中纵坐标为透光强度，横坐标为外加电压。最大透光强度的10％所对应的外加电压值称为阀值电压〔〕，标志了液晶电光效应有可观察反响的开场〔或称起辉〕，阀值电压小，是电光效应好的一个重要指标。最大透光强度的90％对应的外加电压称为饱和电压〔〕，标志了获得最大比照所需的外加电压值，小则易获得良好的显示效果，且降低显示功耗，对显示寿命有利。比照度，其中为最大观察〔接收〕亮度〔照度〕，为最小亮度。陡度即饱和电压与阀值电压之比。
四、实验内容及步骤
1，光学导轨上依次为：半导体激光器—偏振光—液晶盒—偏振片—光电探测器。翻开半导体激光器，调节各元件高度，尽量使激光依次穿过光学元件中心，最后打在光功率测试仪的探头上。
2，调整光路后，从光路中取下液晶盒，翻开光功率测试仪，旋转两片偏振片，可观察光功率计数值大小变化，假设最大透射光强小于200μW，可旋转半导体激光器机身，使最大透射光强大于200μW，最后调节偏振片正交至透射光强值到达最小。
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3，将液晶盒参加光路，将液晶盒的控制电箱的“调节〞旋转逆时针旋到头后翻开电源开关，此时液晶为透光状态。
4，缓慢顺时针旋转“调节〞旋钮，使驱动电压升高，同时记录下电压与光功率的关系。。
注意：液晶的变化比拟慢，每次调整电压后，要等光功率根本稳定后在记录。
一次测量过程请勿更改光功率试仪的档位，否则测量数据会有偏差。
作电光曲线图，纵坐标为透射光强值，横坐标为外加电压值。
根据作好的电光曲线，求出样品的阀值电压(最大透光强度的10％所对应的外加电压值)，饱和电压(最大透光强度的90％对应的外加电压值)，比照度()及陡度β〔β=〕.
实验数据

电压V/光强mW