内存测试卡使用说明.pdf

文档介绍：
正式版
内存测试卡使用说明
本测 IC 是坏的。在 PCB 板上，该显示阵列右边标有
1，2，3，4 四个数来表示四行。用来对应内存条的不同面。注意显示阵列中间一行没有使
用。因此在 PCB 板上没作标识。
a):显示待测内存的正面
待测内存的正面用第 2 行来表示，用来代表内存正面的 8 颗 IC.(注意：对于 SDR，
内存的正面是指内存 PCB 上标有 1。。。84 这一面，见图示)


显示阵列（5X8 显示阵列第 2 行）



1 2 3 4 5 6 7 8

其中 1-8 与经过编排后的内存 IC 序号相对应（内存 IC 编排方法见系统测试环境中
的 IC 编排方法）。假如某内存编排后顺序如下，如果显示阵列第 3 盏灯亮，则表明内存
上序号和 3 对应的第 4 颗 IC 出错。

内存条（正面）

1 2 4 3 6 5 7 8

Pin1 Pin10 Pin40 Pin84

b):显示待测内存的背面
待测内存的背面用第 1 行来表示，用来代表内存反面的 8 颗 IC.(注意：对于 SDR，
内存的背面是指内存 PCB 上标有 85。。。168 这一面，见图示)

显示阵列（5X8 显示阵列第 1 行）



1 2 3 4 5 6 7 8

其中 1-8 和经过编排后的内存 IC 序号相对应（内存 IC 编排方法见系统测试环境中
的 IC 编排方法）。假如某内存编排后顺序如下，如果显示阵列第 6 盏灯亮，则表明内存
上序号和 6 对应的第 5 颗 IC 出错。

内存条（反面）

1 2 4 3 6 5 7 8
Pin85 Pin94 Pin124