计算机实验一金属箔式应变片性能实验.doc

文档介绍：实验一 金属箔式应变片性能实验
——单臂、半桥、全桥电路性能比较
测控091 200900304037 黄健华
一、实验目的：
观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式。
测试应变梁形变的应变输出。
比较各种桥路的性能（灵敏度）。
实验一 金属箔式应变片性能实验
——单臂、半桥、全桥电路性能比较
测控091 200900304037 黄健华
一、实验目的：
观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式。
测试应变梁形变的应变输出。
比较各种桥路的性能（灵敏度）。
二、实验原理：
应变片是最常用的测力传感元件，当用应变片测试时，应变片要牢固地粘贴在测试体表面，当测件受力发生形变, 应变片的敏感栅随同变形，其电阻值也随之发生相应的变化。通过测量电路，转换成电信号输出显示。
电桥电路是最常见的非电量电测电路中的一种，当电桥平衡时，桥路对臂电阻乘积相等，电桥输出为零，在桥臂四个电阻R1、R2、R3、R4中，电阻的相对变化率分别为，当使用一个应变片时，；当二个应变片组成差动状态工作，则有；用四个应变片组成二个差动对工作，且。根据戴维南定理可以得出测试电桥的输出电压近似等于1/4 • E •ΣR，电桥灵敏度，于是对应于单臂、半桥、全桥的电压灵敏度分别为1/4E、1/2E和E。由此可知，当E和电阻相对变化一定时，电桥及电压灵敏度与各桥臂阻值的大小无关，单臂、半桥、全桥电路的灵敏度依次增大。
三、实验所需部件：
直流稳压电源（档）、电桥、差动放大器、金属箔式应变片、测微头、电压表。
四、实验接线图：
五、实验步骤：
1、调零。开启仪器电源，差动放大器增益置100倍（顺时针方向旋到底），“+，-”输入端用实验线对地短路。输出端接数字电压表，用“调零”电位器调整差动放大器输出电压为零，然后拔掉实验线。调零后电位器位置不要变化。
如需使用毫伏表，则将毫伏表输入端对地短路，调整“调零”电位器，使指针居“零”位。拔掉短路线，指针有偏转是有源指针式电压表输入端悬空时的正常情况。调零后关闭仪器电源。
2、按图（1）将实验部件用实验线连接成测试桥路，单臂桥路中R2、R3、R4和WD为电桥中的固定电阻和直流调平衡电位器，R1为应变片（可任选上、下梁中的一片工作片）。直流激励电源为±4V；半桥桥路中R1和R2为箔式应变片，R3、R4仍为固定电阻；全桥桥路中R1、R2、R3、R4全部使用箔式应变片。在接半桥、全桥桥路时应特别注意其应变片的受力方向，一定要接成差动形式。
3、调节测微头，使悬臂梁处于基本水平状态。
4、确认接线无误后开启仪器电源，