文档介绍：实验三移位运算和存储器实验
实验三移位运算和存储器实验
一．实验目的
1．验证移位控制的组合功能。
2．掌握静态随机存储器 RAM 工作特性及数据的实验三移位运算和存储器实验
实验三移位运算和存储器实验
一．实验目的
1．验证移位控制的组合功能。
2．掌握静态随机存储器 RAM 工作特性及数据的读写方法。
二．实验设备
TDN-CM 计算机组成原理教学实验系统一台，排线若干。
三．实验内容
移位运算实验
1．实验原理
移位运算实验原理如图 3-1 所示。
·8·计算机组成原理实验指导书
图 3-1 移位运算实验原理图
实验中使用一片 74LS299 芯片作为移位发生器，其 8 个输入/输出端以排针方式
和总线单元连接。“299-B”信号控制该芯片的使能端，T4 时序为其时钟脉冲，实验
时将“JT UNIT”中的 T4 接至“STATE UNIT”中的 KK2 单脉冲发生器，由 S0、S1、
M 控制信号控制其功能状态，其功能状态如表 3-1：
表 3-1 移位发生器功能状态表
299-B S1 S0 M 功能
0 0 0 任意保持
0 1 0 0 循环右移
0 1 0 1 带进位循环右移
0 0 1 0 循环左移
0 0 1 1 带进位循环左移
任意 1 1 任意装入数据
2．实验步骤
(1)按图 3-2 连接实验线路，仔细查线路无误后，接通电源。
·9·实验三移位运算和存储器实验
图 3-2 实验接线图
(2)移位操作。
①置数，具体操作步骤图示如下。
②移位，参照表 3-1 改变 S1、S0、M、299-B 的状态，按动微动开关 KK2，
观察移位结果。
(3)分别输入 10 组以上不同实验数据，重作步骤(2)。自行设计表格，将移位运算
数据及结果记录在表中。
存储器实验
1．实验原理
实验所用的半导体静态