文档介绍：电容应力失效跟踪报告一、现象........................................................................................................................................... 1 二、问题定义................................................................................................................................... 1 三、信息收集、跟踪与分析........................................................................................................... 1 四、结论........................................................................................................................................... 2 五、改善建议................................................................................................................................... 2 一、现象 2012 年5 月 24 日首次接板卡调试段通知, GPS G03H 主板在进行 48V 高压测试时, 出现批量 C27/C39 电容烧毁的现象。进一步跟踪发现, 后续 G03H 系列产品各批次都存在这个问题,失效率时高时低,在 2% ~ 5% 左右浮动。最后一次生产 1000 台 G03H-T 主板,出现 16 块 C27 烧,不良率 % ; 13 块 C39 烧,不良率 % 。根据操作员提供的现场描述,主板经过 12V 上电,工作正常,各测试点电压正常。然后切换到 48V 供电,在上电时 C27/C39 出现电火花,立即下电后发现电容已烧毁。 48V 上电时间一般在 1 秒左右。二、问题定义涉及该问题的主板包括: G03H , G03H-T , G03H , G03H-T 。出现该问题的环境:板卡调试段, 48V 高压测试,在主板电源输入端提供 48V 电压。出现失效的器件:电容 C27 与 C39 。三、信息收集、跟踪与分析 1. 问题共性: G03H 各系列主板差异很小,烧毁电容所属的电路环境完全相同。同时, C27 与 C39 使用同一种物料, 并联在同一级电路上,在 PCB 板上也是并列排放; 同一批次中, 同时存在 C27 烧和 C39 烧的问题。根据以上信息,基本可以认定属于同一种问题。 2. 根据生产记录显示,自 201 1年10月 G03H V1. 0 首量后, 各月均有数百至数千的产量, C27 与 C37 不良率之和一直保持较低水平,多个月份失效率为 0% 。在