文档介绍：柔性抛光磨粒群动态力链观测装置制造方法
柔性抛光磨粒群动态力链观测装置制造方法
柔性抛光磨粒群动态力链观测装置，包括图像处理装置和颗粒控制装置，图像处理装置包括光源发生器、光源采集器、数据分析仪，光源发生器位于观测区最低端，光源发生器发态，通过位移传感器记录下滑块的速度与位移，模拟磨粒在柔性抛光加工时候被施加的速度，通过在上滑块与下滑块设计应力传感器，实时测得滑块内部对光弹颗粒所施加的压力。将这些数据传送至数据分析仪，可作为对光弹颗粒的初始施加参数。
[0013]进一步，对光弹实验拍摄得到的数字图像进行处理，在此基础上，结合彩色梯度算法获取光弹颗粒材料力学信息，得到力链分布图，验证磨粒群力传递分析理论体系，并观测颗粒群的几何位置信息，验证颗粒物质破坏性结构的主要构型与形成规律，并以磨粒群理想切削状态为目标得到磨粒群理想控制参数。
[0014]本发明的有益效果在于:1、基于Maxwell关于应力-光学定理，采用光弹颗粒对磨粒群进行实物模拟，通过数字图像分析方法，结合彩色梯度算法获取光弹颗粒材料力学信息，得到力链分布图。2、通过颗粒控制模块，使得光弹颗粒的外部施加参数可实时被检测，并可通过滑块进行光弹颗粒运动状态的调整，实现了对柔性抛光加工实验的模拟，并以磨粒群理想切削状态为目标得到磨粒群理想控制参数。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1是本发明整体结构示意图。
[0016]图2是本发明光弹颗粒控制模块示意图。
[0017]图3是本发明颗粒力链微观示意图
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图进一步说明本发明
[0019]参照附图:
[0020]本发明所述的柔性抛光磨粒群动态力链观测装置，包括图像处理装置I和颗粒控制装置2，所述的图像处理装置I包括光源发生器13、光源采集器11、数据分析仪12，所述的光源发生器13位于观测区最低端，并且光源发生器13发射的光源穿过下偏振光器14指向位于由下偏振光器14和上偏振光器16组成的观测区之间的颗粒控制装置2 ;所述的颗粒控制装置2的上表面覆盖透明挡板15 ;所述的光源采集器11位于上偏振光器16的正上方，并且光源采集器11的光源采集视野覆盖通过上偏振光器16透射出的光源；所述的数据分析仪12的数据输入端与所述的光源采集器11的数据输出端相连、所述的数据分析仪12的数据信号输出端与数据分析仪12的显示屏连接；
[0021]所述的颗粒控制装置2包括透明的上滑块21、透明的下滑块28、用于容纳光弹颗粒的容纳腔，所述的下滑块28配有应力传感器29和位移传感器24，所述的应力传感器29的数据输出端和位移传感器24的数据输出端分别与所述的数据分析仪12相应的数据端连接。
[0022]所述的腔体包括上挡板23、下挡板26、左滑动挡板22和右滑动挡块25，所述的上挡板23固定在上滑块21内，所述的下挡板26固定在下滑块内，所述的上挡板分别通过左滑动挡板和右滑动挡块与所述的下挡板绞接，四个挡板以密封的形式约束光弹颗粒处于观测区的中心，并且通过所述的上挡板23和所述的下挡板26之间的相对位移实现光弹颗粒内部力学信息的变化，所述的上滑块21和所述的下滑块28分别通过上挡板23和下挡板26实现二者之间的相对位移。
[0023]所述的上挡板23和所述