1 / 13
文档名称:

铜箔基板品质术语诠释.doc

格式:doc   大小:78KB   页数:13页
下载后只包含 1 个 DOC 格式的文档,没有任何的图纸或源代码,查看文件列表

如果您已付费下载过本站文档,您可以点这里二次下载

分享

预览

铜箔基板品质术语诠释.doc

上传人:泰山小桥流水 2022/6/15 文件大小:78 KB

下载得到文件列表

铜箔基板品质术语诠释.doc

相关文档

文档介绍

文档介绍:铜箔基板品质术语之诠释
铜箔基板品质术语之诠释
1/13
铜箔基板品质术语之诠释
铜箔基板品质术语之讲解(一)
主编白蓉生先生
前言:
有关铜箔基板(CopperCladedLami常数”的说法并无不妥。但若用以表达板材之不良“极性”时,则不如“容电率”来得更为贴切。因而目前对此Dk,在正式规范中均已改称为更标准说法的“相对电容率εr”了。注意ε是希腊字母Episolon,并非大写的E,好多半桶水者经常写错也念错。
事实上,绝缘板材之所以会出现这种不良的“容电”效果,主若是源自其材板材本身分子中拥有极性(polarity)所致。由于其极性的存在,于是又产生一种电双极式的“偶极矩”(DipoleMoment,比方纯水25℃),
铜箔基板品质术语之诠释
铜箔基板品质术语之诠释
4/13
铜箔基板品质术语之诠释
进而造成平行金属板间之介质材料,对静电电荷产生“蓄或容”的负面效果,极性愈大时Dk也愈大,容蓄的静电电荷也愈多。
纯水本身的Dk常高达75,故板材必须尽量防备吸水,才不致升高Dk而减缓了讯号的传输速度,以及对特性阻抗控制等电性品质。
业界重要的铜箔基板(CCL)规范,如早期的MIL-S-13949H(1993),现行的IPC-4101(1997)以及IEC-326等,均已改称为Permittivity而不再说成Dk了。但是国内业者知道εr的人并不多,甚至连原来的Dk也多误称为“介电常数”,想必是前辈资深者每天忙碌与辛苦之下,只好不求甚解自欺欺人以谣传讹,使得后进者也
糊里胡涂不得不随着错下去了。

上述“相对容电率”(即介质常数)太大时,所造成讯号流传(输)速率变慢的效果,可利用著名的MaxwellEquation加以说明:
Vp(流传速率)=C(光速)?M√εr(周遭介质之相对容电率)
此式若用在空气之场合时(εr=1),此即说了然空气中的电波速率等于光
速。但当一般多层板面上讯号线中传输“方波讯号”时(可视为电磁波),须将FR-4板材与绿漆的εr(Dk)代入上式,其速率自然会比在空气中慢了好多,且εr愈高时其速率会愈慢。
正仿佛高速公路上若有大量污泥存在时,其车速之部份能量会被吸收,车速也会随之变慢。还可换一种想象来加以说明,如在弹簧路面上跑步时,其速度自然不如正常路面来得快,原因自然仍是部份能量被浪费在弹跳上了。由此可知板材的
r要尽量抑抵的重要性了,且还要在温度变化中拥有稳定性,方不致影响“时脉速率”不断提高低的讯号品质。
但是若专业生产电容器时,则材料之εr反而要越高越好,而陶瓷之εr常在100以上正是容器的理想良材。

IPC-4101对εr及Df,都指定按IPC-TM-,即以Balsbaugh品牌之LD3DielectricCell去测Air的电容值(C1),及测DowCorning200Fluid油的电容值(C2),再测第同样板()的电容值(C3),之后又测第二样板的电容值(C4),即可利用其公式:
铜箔基板品质术语之诠释
铜箔基板品质术语之诠释
5/13
铜箔基板品质术语之诠释
然后再测液油的导电度G1,及第同样板的导电度G2,并利用其公式计算出Df
铜箔基板品质术语之诠释
铜箔基板品质术语之诠释
13/13
铜箔基板品质术语之诠释
但上述做法是在1MHz的频率下所测,所得数据已远不敷实际需要,对于近年来工作频率高达1GHz甚至在1GHz以上之Dk者,则需另采“真空腔”方式(VacuumCavity)去测试才行,但此法在业界尚未流行。
?MDisspationFactor(Df)消散因素(最重要)

此词在信息业与通信业最简单直接了当的定义是“讯号线中已漏失(Loss)到绝缘板材中的能量,对尚存在(Stored)线中能量之比值”。
但本词在电学中原本却是对交流电在功能损失上的一种胸襟,系绝缘材料的一种固有的性质。即“消散因素”与电功损失成正比,与周期频率(f)、电位梯度的平方(E2),及单位体积成反比,其数学关系为
当此词Df用于讯号之高速传输(指数位逻辑领域)与高频流传(指RF射频领
域)等信息与通讯业中,尚还有三个常有的同义字,如损失因素(Loss
Factor)、介质损失(Dielec