文档介绍：一种异形颗粒的粒度表征方法
一种异形颗粒的粒度表征方法
本发明公开了一种异形颗粒的粒度表征方法，包括：确定异形颗粒的重心点，测量穿过所述重心的若干条直线中的每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积，及异形颗粒的总面积；计算每条直线旋转预形颗粒中的同一粒度对应的面积比进行加和处理，以作为该粒级在该多个异形颗 粒中的含量比。
[0019] 该方法还包括：
[0020] 当完成针对一个或多个异形颗粒的测量并获得一个或多个异形颗粒中不同粒级 的含量比后，则将一个或多个异形颗粒中的同一粒度对应的面积比与通过其他方式测量获 得的一个或多个非异形颗粒的测量结果中的同一粒度的占比进行加和处理，以作为该粒级 在一个或多个异形颗粒及一个或多个非异形颗粒中的含量比。
[0021] 由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明实施例提供的技术方案可以在地 质选矿领域，增加工艺粒度统计的精确度，特别在通过粒度预测解离度模型方面与传统粒 度统计方法相比有明显的优越性，能够更为准确地预测矿物的解离度，为指导工艺生产提 供重要信息。
【专利附图】
【附图说明】
[0022] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用 的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本 领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他 附图。
[0023] 图1为线测法确定颗粒粒度特征的示意图；
[0024] 图2为本发明实施例中确定异形颗粒粒度特征的示意图。
【具体实施方式】
[0025] 下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整 地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本 发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施 例，都属于本发明的保护范围。
[0026] 本发明实施例提供的一种异形颗粒的粒度表征方法既能结合矿物形态又能多方 位地直观反映颗粒粒度，从而可以为工艺生产过程中评价物料特性提供重要的指导。本发 明实施例可以广泛应用于地质学、选矿学、化工、建材及冶金、生物学科等领域中。
[0027] 本发明实施例提供的一种异形颗粒的粒度表征方法，其主要包括以下步骤：
[0028] 步骤1，确定异形颗粒的重心点，测量穿过所述重心的若干条直线中的每条直线旋 转预定角度时扫过异形颗粒的面积，还需要测量异形颗粒的总面积；
[0029] 所述旋转预定角度的方式可以包括：以所述重心点为旋转，将每条直线分别向顺 时针方向和逆时针方向旋转预定角度；
[0030] 相应的若千条直线可以均匀分布于以所述重心点为中心的360度范围中，且若干 条直线中的每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积的总和即为异形颗粒的总面积。
[0031] 步骤2,计算每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积与异形颗粒的总面积 比值，作为该条直线对应的面积比；
[0032] 步骤3,确定所述若干条直线中的每条直线在所述异形颗粒中的有效长度作为该 条直线对应的粒度（即粒级），并建立所述每条直线对应的粒度与所述面积比的对应关系； [0033] 所述的有效长度具体是指该条直