文档介绍：JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJFXXXX- XXXX
a谱仪校准规范
Calibrat ion Spec i f i cat i on for Alpha Spectrometers
（征求意见稿）
energy resolution
谱仪分辨能量相近a射线能量峰的本领。
［源］表面发射率：每秒钟2兀球面度，符号：s』()'。
，符号：h』。
，符号：keV0
4概述
a谱仪是一种通过获取a粒子能谱，用于放射性活度测量和核素分析的仪器。a 谱仪主要由探测器、高压电源、前置放大器、线性放大器、多道脉冲分析器以及数 据采集和处理系统组成。根据a射线与探测器相互作用产生能量沉积输出的电压脉 冲信号幅度与入射a粒子能量成正比，通过谱分析软件可得到a粒子能谱。
a谱仪主要包括气体探测器型和半导体探测器型，广泛应用于辐射环境监测等领 域a衰变核素的识别和定量分析。
5计量特性
能量测量范围(3~8) MeVo
无污染情况下，3 h
在源距探测器表面距离等于探测器直径的条件下，半导体探测器型a谱仪的能量 分辨力通常不超过30 keVo
在源距探测器表面小于10 mm条件下，半导体探测器型a谱仪的探测效率通常 不低于
25%O
注：以上计量特性指标不适用于合格性判定，仅供参考。
6校准条件
温度：(10~35) °C
：不大于85%
a标准平面源的技术指标见表lo
表1 a标准平面源的技术指标
核素 规格 表面发射率
表面发射率的
扩展不确定度
f 外径：中18 mm〜①35 mm,
」39pu 或 洼桩 (+01- +03)
24i A 沽性区：① 16 mm 〜①25 mm, 、-i
Am 归m “I s (2兀・sr)
厚度：(〜) mm
%
(k=2)
7校准项目和校准方法
被校a谱仪开机预热，清洁样品盘，确保无放射性核素污染后将其放入测量室， 待真空度达到仪器要求条件后设定工作电压，测量仪器本底。测量时间应不少于24 小时，计算(3〜8) MeV计数，按式(1)计算本底计数率％：
〃广牛 ⑴
式中：Nh——本底计数
t——本底测量时间
按表1选择a标准源，将标准源放入探测器样品盘内，待真空度达到仪器要求 条件后设定工作电压，获取标准源能谱。待峰面积计数大于40000后，读取全能峰 半高宽△&,即为a谱仪对该特征峰的能量分辨力。
将a标准源置于样品盘，。待峰面积计数大于40000 后，按公式(2)计算被检仪器的探测效率。
式中：£——探测效率；
n 测量标准源的计数率，S'1；
nb——峰面积内的本底计数率，s"；
q膈 标准源的表面发射率，s"（）"。
8校准结果表达
按本规范进行校准，出具校准证书，校准证书内页格式见附录B；校准结果应 给出探测效率测量结果的不确定度（评定示例见附录C） o
9复校周期间隔
建议复校时间间隔为24个月。由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、 使用者、仪器本身质量等诸多因素所决定的，因此，送校单位可根据实际使用情况 自主确定复校周期间隔。
附录A校准记录推荐格式
a谱仪校准记录
送校单位
仪器名称
型号/规格
出厂编号
生产厂家
校准日期
证书编号
校准依据的技术文件
校准环境条件
温度： °C 相对湿度： %
计量标准证书编号
有效期
校准项目
校准结果
本底计数 率
测量时间(h)
本底计数
本底计数率(h1)
能量分辨 力
测量时间(s)
峰面积总计数
能量分辨力(keV)
探测效率
标准平面源表面粒子发射率： 疽(2兀0尸
标准平面源距离探测器相对位置：
测量时间(s)
峰面积总计数
探测效率
校准员:
核验员:
附录B校准证书内页信息及推荐格式
1本底计数率
Hb=
在标准平面源距离a谱仪探测器相对位置在XX条件下，能量分辨率H和探测 效率，的校准结果如下:
2能量分辨力
AE =
3探测效率£及其不确定度
£-