文档介绍：一种基于gtem小室的辐射emi测试方法
一种基于gtem小室的辐射emi测试方法
本发明提供了一种基于GTEM小室的辐射EMI测试方法，该方法先求出频点为f0的标准被测品在电波暗室中的水平辐射场强和垂直辐射场强，然后分别求得标准被测品一种基于gtem小室的辐射emi测试方法
一种基于gtem小室的辐射emi测试方法
本发明提供了一种基于GTEM小室的辐射EMI测试方法，该方法先求出频点为f0的标准被测品在电波暗室中的水平辐射场强和垂直辐射场强，然后分别求得标准被测品在开阔场中总功率算法和Lee算法的水平极化等效辐射场强和垂直极化等效辐射场强，根据公式求得频点f0所对应的相位补偿校准因子，将相位补偿校准因子和任意被测设备总功率算法和Lee算法的水平极化等效辐射场强和垂直极化等效辐射场强代入相应公式即可求得任意被测设备在开阔场中的测试结果。该测试方法在总功率算法基础上，以Lee算法进行相位补充，克服了总功率算法单独使用时未考虑相位因素和Lee算法单独使用时近似假设引入误差而导致测试结果准确度较低的问题。
【专利说明】一种基于GTEM小室的辐射EMI测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及辐射EMI测试，尤其涉及一种基于GTEM小室的辐射EMI测试方法，属于电磁兼容【技术领域】。
【背景技术】
[0002]随着科技的高速进步和经济的快速发展，各种电子产品广泛应用于人们的生产和生活中。这些电子产品同时工作时产生的电磁干扰问题日趋严重。电磁干扰问题不仅会影响电子产品的正常工作，也会影响人们的健康，因此对电子产品进行电磁兼容性测试研究越来越受到重视。
[0003]电磁兼容是指设备或者系统在一定电磁环境中的运行情况符合要求，并且不对处于同一电磁环境中的任何其他设备产生超过一定限度电磁骚扰的能力。电磁兼容测试包括EMI电磁干扰测试和HMS电磁敏感性测试两部分。目前，国内外主要的电磁兼容测试试验场地有开阔场、电波暗室、屏蔽室以及GTEM小室。GTEM小室作为试验场地与其他试验场地相比，具有截止频率高、场均匀性好、占地空间小以及建造成本低等优点。但是，开阔场作为公认的进行EMI测试的标准场地，任何其他场地的测试结果都要等效到开阔测试场中。目ill针对GTEM小室主要有以下二种等效的测试方法和算法:Wilson算法、Lee算法和总功率算法。Wilson算法通过在GTEM小室中测试ETU (被测设备)不同朝向和旋转角度的辐射发射值计算出ETU等效的电偶极矩和磁偶极矩，继而计算出偶极子模型在开阔场中的场强值。Lee算法与Wilson算法测试过程类似，只是考虑了偶极子的相位问题，需要多测几组，计算过程中不需要求出ETU的等效偶极子分量。Lee算法在推导过程中，做了以下两点近似:①OATS中测试距离远大于EUT高度测试距离远大于天线高度。Lee算法的近似假设引入误差导致测试结果准确度较低。
【发明内容】
[0004]本发明提供了一种基于GTEM小室的辐射EMI测试方法，该测试方法在总功率算法基础上，以Lee算法进行相位补充，克服了总功率算法单独使用时未考虑相位因素和Lee算法单独使用时近似假设引入误差从而导致测试结果准确度较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本发明采取以下技术方案:
一种基于GTEM小室的辐射EMI测试方法，包括以下步骤: