文档介绍：修复存储器缺陷的方法和装置的制作方法
专利名称：修复存储器缺陷的方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种修复存储器缺陷的方法和装置。
背景技术：
近来，因电子设备的数字化，作为媒介的存储器的用途已经越来越多。然而，灰尘或读控制信号到存储器控制器104，且通过数据总线(没示出)从存储器106读数据。
当数据写入存储器106时，系统控制器102将外部地址和写控制信号施加到存储器控制器104，且通过数据总线(没示出)写数据到存储器106。
存储器控制器104产生对应于外部地址和指定要访问的存储器单元的内部地址以及控制数据读和写操作的控制信号RAS、CAS和WE。存储器控制器104将内部地址和控制信号RAS、CAS及WE施加到存储器106。
系统控制器102施加的外部地址和访问存储器106所必要的内部地址间的关系依赖于存储器106的结构和类型而变。所以，提供存储器控制器104是为了内部和外部地址间的合适转换。
尤其，依赖于存储器106的结构和类型，存储器控制器104转换由系统控制器102产生的存储器访问请求。存储器控制器104容许系统控制器102对任何种类和任何结构的存储器进行访问。
当整个系统运行时，存储器扫描控制器108为寻找缺陷的单元而对存储器106进行扫描，并提供产生的缺陷信息给存储器控制器104。该缺陷信息包括在存储器106中的缺陷单元的外部地址。存储器控制器104包括备用存储器，例如，提供来替代存储器106中的缺陷单元的内部寄存器。当系统控制器102访问存储器106中的缺陷单元时，存储器控制器104写数据到备用存储器或从备用存储器读数据，而不是写到存储器106中缺陷单元或从存储器106中缺陷单元读数据。
当图1所示用于修复缺陷存储器单元的装置运行时，为了寻找任何缺陷存储器单元，存储器扫描控制器108通过写预定的数据到存储器106，从存储器106读回该预定的数据，然后将写入存储器106的数据和从存储器106读回的数据进行比较来对存储器106进行扫描。这个过程要求存储器扫描控制器108产生外部地址和读/写控制信号RW，以及将该外部地址和读/写控制信号RW施加到存储器控制器104。
从系统控制器102提供检查信号CHECK SIGNAL给存储器扫描控制器108，以便在存储器扫描控制器108中启动存储器扫描操作。响应CHECK SIGNAL，存储器扫描控制器108执行存储器扫描操作。
当执行存储器扫描运行时，存储器扫描控制器108将扫描信号SCANSIGNAL施加到存储器控制器104，以防止系统控制器102访问存储器106。当激活扫描信号SCAN SIGNAL时，存储器控制器104仅响应扫描控制器108用的外部地址和读/写控制信号RW而运行。当使扫描信号SCAN SIGNAL失活时，存储器控制器104仅响应系统控制器102用的外部地址和读/写控制信号而运行。
作为存储扫描运行的结果，存储器扫描控制器108获得存储器106中缺陷单元的外部地址。在存储扫描运行后，缺陷单元的外部地址被发送到存储器控制器104，以作为缺陷信息。
在存储器扫描控制器108提供给存储器控制器104的缺陷信息中识别出的缺陷单元是以外部地址的形式表示的。该地址格式与用在系统控制器102中的格式一样，但与存储器控制器104用的内部地址格式不同。