文档介绍：元器件检验通用标准
机密文件 严禁私印外传
来料检验标准
版 本：
抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148、二极管1N4007引脚直径
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
电阻
引脚
1．1/4W碳膜、-
（26mm），编带中间电阻引脚的两端
尺寸为26mm，也有52mm。
3．电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。
CR
数字卡尺
目测
2
二极管
1N4148
引脚
1、-。
2．二极管1N4148要求带编带（26mm），编带中间二极管1N4148引脚的两端尺寸为26mm。
3．二极管1N4148引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象
CR
数字卡尺
目测
机密文件 严禁私印外传
3
二极管
1N4007
引脚
1．-。
2．二极管1N4007要求带编带（58mm），编带中间二极管1N4007引脚的两端尺寸为58mm。
3．二极管1N4007引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象
CR
数字卡尺
目测
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
所用材料与样品相符。
与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装
标识
包装材料用料正确。 、数量无误。
小包装方式、数量无误。、外箱标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期
、
来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-005
受控状态：
瓷片电容
修 改 页：
抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
电容：104P/50V+80%-20% 102P/50V+80%-20%(直径φ5脚距5mm)
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
机密文件 严禁私印外传
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。脚距5mm，φ6mm，符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1．使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内，漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。
2．+80%-20%（+80%-20%），损耗角≤。
3．常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ
4．常温下，用耐压测试仪测端子间耐压值75V；端子与外壳间耐压值为100V，应元击穿或飞弧现象（高温区95℃-105℃检测方法相同）。
5．将其放于95℃～105℃及低温-18℃以下，+80%-20%（+80%-20%）.
6. 手工浸水湿度93%±3%+80%-20%（+80%-20%）.
CR
数字电容测试仪
漏电流测试仪
耐压测试仪
绝缘电阻测试仪
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
所用材料