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电子元器件在铯137辐射环境下的性能测试.docx

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电子元器件在铯137辐射环境下的性能测试.docx

上传人:shugezhang1 2022/8/6 文件大小:10 KB

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文档介绍

文档介绍:由于电子元器件的材料和制造工艺不同,其耐受的辐照剂量以及剂量 率可能就不同。本课题主要研究在实验室用放射源137Cs辐照的条件下, 课题内电子元器件的性能的变化。为在辐照环境下的电子设备的设计提供必要 容介绍的基础数据。
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由于电子元器件的材料和制造工艺不同,其耐受的辐照剂量以及剂量 率可能就不同。本课题主要研究在实验室用放射源137Cs辐照的条件下, 课题内电子元器件的性能的变化。为在辐照环境下的电子设备的设计提供必要 容介绍的基础数据。
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毕业设 3. 计(论 文)要求
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熟悉电子元件辐射的损伤机理,查阅期刊库与电子元件辐射损伤相 关的文献,针对本课题研究意义和研究方法写出一份开题报告。
以典型的电子元件:电阻、电感、电容为研究对象,设计并建立实
验测试平台,改变剂量率和辐照时间来测试元器件的性能。
写出一篇完整的毕业论文。
要求
开题报告应查阅20篇以上的中、英文文献,字数不少于3000字。
电子元件种类三种以上,剂量率和辐照时间分别选择三种情况。
论文逻辑清楚、结构合理,完全达到学校对毕业论文的规定和要求。
内容介绍:由于电子器件的材料和制作工艺不同,其耐受的辐射剂量以及剂量率可能不同, 课题主要研究在实验室用放射源铯137辐照的条件下,电子元器件的性能变化,为辐照环境 下的电子设备的设计提供必要的基础数据
要求:,查阅期刊数据库与电子元件辐射损伤相关的文献, 针对本课题研究意义和研究方法写出一篇开题报告。
以典型的电子元件:电阻、电感、电容为研究对象,设计并建立实验测试平台,改变剂量 率和辐照时间来测试元器件的性能。
开题报告应查阅20篇以上的中、英文