文档介绍：保密2021-3-31
实验报告
Experimentreport
保密2021-3-31
名称:AAP149芯片评估报告
Theme:AssessmentreportforAAP149MicrophoneChips
报告人:王保密2021-3-31
实验报告
Experimentreport
保密2021-3-31
名称:AAP149芯片评估报告
Theme:AssessmentreportforAAP149MicrophoneChips
报告人:王俊、施祖建
日期:
writorofthereport:
(王俊)、
施祖建)
date:March21th2011
实验目的:
审核:
Review
日期:
date
验证AAI
AAP149芯片的性能。
Obiective:ExperimentalValidationofAAI&AAP149Chipsperformance
实验结论:
Testconclusion
保密2021-3-31
保密2021-3-31
验证参数Testparameters:
:AAIAAP149芯片的GAIN、THD+N、PSR、Noise>及成品数麦的降压特性和频响曲线等参数。
THD+N,GAIN,PSR,NoiseofAAI&AAP149chip,andcharacteristics&frequencyresponsecurveofdigitalmicrophone,etc.
保密2021-3-31
保密2021-3-31
ujcafM诔圳市豪恩声学股份有限公司
IIWfIiIShenzhenHornAudioCo.,Ltd.
实验测试仪器:Bk3010,AP2722o
Testequipment:
实验步骤:Teststep:
1、外观检测;AppearanceTest
2、芯片贴装实验;Mountingtestofchip;
2、单体制作;Bareproduction
3、样品性能测试;Samplesperformancetest;
4、可罪性试验reliabilitytest
实验数据:
外观检测Appearancetest
包装方式为Tape包装,可采用SMT设备进行贴装。
PackingmethodareTapeandcanbeuseSMTequipmenttomounting.
Packagingfigure包装图:
HORN深圳市豪恩声学股份有限公司
保密2021-3-31
单体芯片图Barechipfigure:
AA#
结论:合格。Conclusion:qualified
芯片外观无破损,背部Marker点清晰完整;
Chip'sappearancehasnotdamagedandtheback^Marker"'spointsareclearandcomplete
二、单体制作信息
1、单体生产基本情况Monomerproduction'sbasicsituation
生产场地:17栋IF样品组车间Productionsite:17buildingIFsamplegroupworkshop,
>AAP149芯片单体主要信息Chipmonomermaininformation
开始时间
Starttime
结束时间endtime
投入数量
Investmentamount
产出数量
Outputquantity
合格品数
Qualifiednumber
不良品数
Unquglifiednumber
2011-02-13
2011-02-16
507
507
164
11
、设备信AJ、equipmentinformation
设备名称
设备编号
参数条件
极化仪
1F样品组
高压:-14KV,低压:-520V:极化时间:7分钟,极化温度:常温。
电位计
1F样品组
210-240V
卷边机
单头卷边机,
测试仪
Bako3010
;
烘箱
HX-02
老化时间:1小时,老化温度:120°C
HORN深圳市豪恩声学股份有限公司
保密2021-3-31
、极化信息Polarizationinformation:
要求电位Requirementspotential:230〜260V,实际抽测平均电位249V(4个角和中间各2PCS)
序号
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
平均
电位(V)
225
224
237
211
232
240
228
218
235
224