迈克尔孙干涉仪测薄膜厚度.docx

文档介绍：迈克尔孙干涉仪测薄膜厚度
实验目的:(1)了解各类型干涉条纹的形成条件,特点,变化规律及相互间的区别;
了解迈克耳孙干涉仪的原理,结构,掌握其调节与使用方法;
掌握用迈克耳孙干涉仪测量薄膜的方法。
实验仪器:迈克耳孙干涉仪,氦-氖激迈克尔孙干涉仪测薄膜厚度
实验目的:(1)了解各类型干涉条纹的形成条件,特点,变化规律及相互间的区别;
了解迈克耳孙干涉仪的原理,结构,掌握其调节与使用方法;
掌握用迈克耳孙干涉仪测量薄膜的方法。
实验仪器:迈克耳孙干涉仪,氦-氖激光器,钠光灯,白炽灯,毛玻
璃屏,薄膜等。
实验原理:测量装置及原理
测量装置如图所示:
由于钠光源中包含有波长相近的两种波长九和九,当平面反射
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镜M缓慢移动时,观察屏中的条纹依次由清晰变模糊,再由模糊变
1
清晰,条纹最模糊时,可见度最小,此时九光波生成亮环的地方,恰
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好是九光波生成暗环的地方,即:2dcosi二2d二k九二(k+!<)X
2 k 112/22
⑴
在M臂中垂直插入一折射率n、厚度为h的透明薄膜A,取空气
1
的折射率为1,M臂中增加的光程差A为:A=2h(n-1) ⑵
1
插入薄膜后,条纹可见度最小的现象被破坏,继续沿原方向移动M平
1面镜Ad的距离,直到再次出现可见度最小的现象为止,此时有:
2h(n-1)二2Ad
h=Ad(n-1) ⑶
则测出Ad,知道折射率n,就可计算h
实验内容:(1)在迈克尔孙干涉仪换上钠光光源,可直接观察清晰的干涉条纹。
慢慢旋转粗动手轮,改变d的距离,使视场中心的视见度最小,记录M的位置d。
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在m臂中垂直插入薄片A,可见度最小被破坏