计算机控制系统硬件抗干扰技术.ppt

文档介绍：计算机控制系统
硬件抗干扰技术
Ⅰ常用元器件可靠性
1 元件的失效特征和失效机理
2 元件的降额设计
3 数字集成电路的噪声容限
Ⅱ硬件抗干扰技术原理与方法
1. 无源滤波器
2. 有源滤波器
3. 去耦电路
4. 屏蔽和双绞线传输
5. 隔离技术
6. 接地技术
Ⅲ CPU模块抗干扰技术
1. 总线的可靠性设计
2. 芯片配置与抗干扰
3. 译码电路可靠性分析
4. 复位电路可靠性分析
1 元件的失效特征和失效机理
电子元件的失效规律------元件失效曲线
元件的实效特征,主要是指失效规律、失效形式
②元件的失效形式
突然失效:也叫“灾难性失效”;
退化失效:也叫“衰变失效”;
局部失效;
整体失效。
元件的失效直接受温度、湿度、电压、机械的影响
温度变化对半导体器件的影响
温度的影响
温度对二极管伏安特性的影响
②温度变化对电阻的影响
温度的影响(续)
温度升高使电阻耗散功率下降,导致其寿命降低。
温度过高能使电阻噪声增大。
温度变化使电阻阻值发生变化。
③温度变化对电容的影响
温度的影响(续)
温度变化引起介质损耗变化,影响其使用寿命。
温度变化引起阻容时间常数等参数变化。
温度过高造成热击穿。
湿度的影响
密封性差元件容易受到腐蚀,造成退化失效。
引起漏电耦合的主要原因。
腐蚀焊点和接线处,引起接触故障。