文档介绍：一、DMOS产品信息简介
TO220
TSSOP8
SOT323
平面结构图示
立体实物图示
G D S
D S
G
二、老化机台简介
HR-1680(RT) HTRB/HTGB SYSTEM
内部电源操作界面
试验箱内部结构
三、老化试验测试规范
1)HTRB试验规范
测试条件
Vds=(Vds Rating) ×80% , T=150℃
样品数量
80 颗
数据采集点
168H 对初始样品在规定条件下进行168H加速试验,然后释放应力,测试样品。
500H 对已完成168H的同一批样品在相同应力条件下连续进行332小时加速试验,
然后释放应力,测试样品。
1000H 对已完成500H的同一批样品在相同应力条件下连续进行500小时加速试验,
然后释放应力,测试样品。
测试电路连接图
应力施加在 D 端;
G、S短接后一起接地。
2)HTGB试验规范
测试条件
Vgs=(Vgs Rating) ×80% , T=150℃
样品数量
80 颗
数据采集点
168H 对初始样品在规定条件下进行168H加速试验,然后释放应力,测试样品。
500H 对已完成168H的同一批样品在相同应力条件下连续进行332小时加速试验,
然后释放应力,测试样品。
1000H 对已完成500H的同一批样品在相同应力条件下连续进行500小时加速试验,
然后释放应力,测试样品。
测试电路连接图
应力施加在 G 端;
D、S短接后一起接地。
四、老化试验测试工作流程
0hrs FT测试
168hrs后FT测试
168hrs老化试验
48hrs老化试验
48hrs后FT测试
选取80颗pass样品
继续500hrs老化试验
Fail 500hrs,试验结束
Fail 168hrs,试验结束
500hrs后FT测试
Fail<=2颗
Yes
No
1000hrs后FT测试
Fail<=2颗
继续1000hrs老化试验
Fail<=2颗
Yes
No
No
Pass 1000hrs
Yes
Fail 1000hrs
试验结束
0hrs FT测试
168hrs老化试验
48hrs老化试验
48hrs后FT测试
选取80颗pass样品
目的:剔除试验开始前已经fail掉的样品
根据申请方的要求,决定是否要进行48hrs老化试验。
,则申请方需要提供足够的
样品数量(>80颗,一般为100颗),此试验需用两块老化
板同时进行实验;
,则只需从0hrs FT测试
后的样品中选取80颗Pass的样品,进行168hrs。
48hrs老化目的:剔除样品中发生早期失效的样品
浴盆曲线:
I:早期失效
II:中间稳定期
III:后期失效
0hrs FT测试
168hrs老化试验
48hrs老化试验
48hrs后FT测试
选取80颗pass样品
3..给样品编号
168hrs后FT测试
操作流程
操作流程举例:# 80颗 TO220 HTRB_168hrs
3..给样品编号
从老化柜中选取实验所需的老化板
每块老化板上都写有板子的功用类型