产品名称低阻型四探针检测仪方阻仪四探针电阻率检测仪.doc

文档介绍：产品名称:低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪
货号:18408
产品型号:KDK-KDY-1
低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪  型号;KDK-KDY-1
仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
(2)范围:电阻率10-5~10+3欧姆·厘米,分辨率为10-5欧姆·厘米
方块电阻10-4~10+4欧姆/□,最小分辨率为10-4欧姆/□
(3)可测量材料:半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等
可准确测量的半导体尺寸:直径≥20㎜
可测量的半导体尺寸:直径≥8㎜
(4)测量方式:平面测量。
(5)电压表:双数字电压表,可同时观察电流、电压变化
~ mV
±(%读数+%满度)
:1uV
D输入阻抗﹥1000MΩ
E 4 1/2位数字显示,0~19999
(6)恒流源:
:~100 mA连续可调,有交流电源供给
:10uA,100uA,1 mA,10 mA,100 mA五档
 :各档均≤±%
(7)四探针测试探头
㎜
:±%
㎜
:碳化钨,探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。
(8)测试架:(选配)
手动测试架:KDJ-1A 型手动测试架探头上下由手动操作,可以用作断面单晶棒和硅片测试,探针头可上下移动距离:120mm,测试台面200x200(mm)。
(9)精度
电器精度:1-1000欧姆≤ %
整机测量精度:1-100欧姆·厘米≤3%
(10)电流:220V±10%,50HZ,功率消耗﹤35W
注:如果测金属粉末电阻率必把样品压成块或片才能测
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