文档介绍：AEC
深圳市亚科德电子有限公司
SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD.
材料检验规范手册
晶振检验规范书
文件编号
版本号
修改号
生效日期
WI-QE-004
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适用范围:
适用于我司各种晶振来料的检验。
缺陷判定的详细标准:
重缺陷: 晶振外观上出现氧化、生锈、镀层脱落。
晶振外观残缺、污物。
晶振丝印与封样不符。
晶振外形及封装尺寸与《检验规格书》不符。
晶振跌落实验后,晶振无功能,频率异常。
轻缺陷: 晶振引脚弯曲变形。
晶振外观上出现不影响功能的可擦试性污渍。
晶振引脚的可焊性差。
检验设备:
操作台、卡尺、恒温烙铁、锡线、晶振测试机、测试电脑、频率计
检验步骤:
外观丝印检验—>封装尺寸检验—>性能指标检验—>可焊性检验
目视
取待检晶振,需目视的项目为:
⑴晶振外形及引脚的清洁度、氧化状况;
⑵晶振外形及引脚的完整性;
⑶晶振丝印的完整与正确性;
注:以上检验可参照《检验规格书》上的封样。
卡尺量测
检验员需对照《检验规格书》上的“技术资料”及“技术图纸”量测的项目:
⑴晶振的外形尺寸;
⑵引脚长、直径、间距;
机测
检验员首先对晶振进行跌落实验。
从75cm高度自由跌落到30mm厚的膠木板上,跌落次数为五次。
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深圳市亚科德电子有限公司
SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD.
材料检验规范手册
晶振检验规范书
文件编号
版本号
修改号
生效日期
WI-QE-004
0
打开测试电脑,取已经过跌落实验的晶振安插到测试机晶振位,将测试机与电脑连接,双击桌面“amcap2a”打开测试程序窗口画面,判断其是否具备功能。
将测试机上的频率测试线与频率计连接,从频率计显示屏读出该晶振频率,确认是否与《检验规格书》要求相符。
无响应的晶振需测试三次。
可焊性检验
用烙铁为其引脚上锡,要求340℃—350℃、时间2±。
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