数字电路实验课件.ppt

文档介绍：电子电路实验
数字电路部分
2003年5月
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第一单元基础测试性实验
第二单元组合电路综合设计
第三单元时序电路综合设计
第四单元 D/A转换和只读存储器综合设计
第五单元综合设计性课程设计
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数字电路实验
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第一单元基础测试性实验
实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
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(1)掌握TTL、HC和HCT与非门主要参数的意义和测试方法。
(2)加深对TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能的认识。
(3)掌握TTL、HC和HCT器件的传输特性。
实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
预****要求
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实验仪器
实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

(1)复****TTL和CMOS与非门主要参数的意义和测试方法。
(2)熟悉TTL和CMOS与非门的外引线排列。
(3)借助EWB仿真软件检验设计结果,并做出分析。
(4)完成预****报告。
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:
(1)信号发生器一台、示波器一台。电流表万用表各一块;
(2)实验电路板一块;
(3)元器件及导线若干;
实验内容
实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
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:
(1) H、ICCL、IIS和NO。
(2)测试平均传输延迟时间tpd。
(3)测试TTL和CMOS与非门的电压传输特性。
(4)测试TTL和CMOS与非门的逻辑功能。
实验电路
实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
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实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
图(一)扇出系数测试
图(二)用环行振荡器测tPd
实验电路
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实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
图(三)电压传输特性
选做题目
图(四)IIS的测试
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(1) 根据CMOS门电路的主要参数定义,设计测试电路,对74HC00的参数进行测试。
(2) 用TTL或CMOS门设计单稳触发延时电路,要求延迟时间tp=1s,用LED显示。
教学意图
实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
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