文档介绍：院别
电子信息学院
课程名称
数字电路实验
班级
光源与照明B
实验名称
TTL门电路的逻辑功能测试
姓名
陈鑫鸿
实验时间
2017年3 月21 日
学号
20**********
指导教师
报告内容
一、实验目任务
、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
。
二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为:
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。
三、实验内容和数据记录
、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86的真值表。
A
B
L
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
1
A
B
L
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
L=AB+AB非=A L= AB+AB非+A非B=A+B
74LS08 74LS32
A
B
L
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
0
L=AB非+ A非B+A非B非=A非+B非
74LS00
A
B
L
0
0
1
0
1
0
1
0
0
1
1
0
L=A非B非 L=AB非+A非B
A
B
L
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
0
74LS02 74LS86
四、实验结论与心得
通过本次实验让我明白了TTL集成芯片中的逻辑功能,了解了各种逻辑电路的实验,更加深入了对数字电路的理解,其中要仔细注意各种芯片引脚里门电路的分布,正确连接试验箱就能正确检验门电路,为以后的数字模拟电路实验打下了基础