文档介绍：热流型差示扫描量热仪的制作方法
热流型差示扫描量热仪的制作方法
本实用新型涉及一种用于测量材料温度升降过程中热量变化量的热流型差示扫描量热仪，包括温度监控系统、数据计算记录系统和样品仓，所述样品仓底部设置有铜台，铜台上设置有至少一层形状的DSC曲线，并且可以实现降温过程的DSC测量。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1是本实用新型的热流型差示扫描量热仪的样品仓的主视示意图，图中温度监控系统和数据计算记录系统具体结构属于现有技术没有示出；
[0017]图中部件附图标记为:1-一级铜台、11-二级铜台、21-第一热电偶、22-第二热电偶、31-第一温度计、32-第二温度计、33-第三温度计、4-主热源、41-副热源、51- —级铜盖、52 二级铜盖、6-样品空间、7-数据计算记录系统、8-温度监控系统。
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明:
[0019]如图1所示:热流型差示扫描量热仪，包括温度监控系统8、数据计算记录系统7和样品仓，所述样品仓底部设置有一级铜台1，所述一级铜台I上设置有至少一层形状为桶形的一级铜盖51，所述一级铜盖51倒扣在一级铜台I上，在两者之间的内部空间形成封闭的样品空间6 ;所述样品空间6内设置有第一热电偶21和第二热电偶22，所述第一热电偶21和第二热电偶22分别与数据计算记录系统7相连，且均为半导体热电偶；在所述一级铜盖51侧面外围包裹有与温度监控系统8相连的主热源4 ;在所述第一热电偶21和第二热电偶22附近设置有第一温度计31，在所述主热源4上设置有第二温度计32，所述第一温度计31和第二温度计32分别与温度监控系统8相连，且均为钼电阻温度计。
[0020]作为一种基本的设计，所述样品仓底部是一级铜台1，一级铜台I上面倒扣设置有至少一层一级铜盖51,从而形成一个由铜材质封闭的样品空间6,由于铜材质本身导热性强，如果出现局部温度差异，可以迅速发生热传递，进而保障样品空间6内部温度稳定；一级铜盖51可以是一层也可以是多层，如果采用多层的一级铜盖51，其保温效果更好。如果采用多层一级铜盖51，铜盖大小要从大到小的依次倒扣在一级铜台I上，大的铜盖罩住小的铜盖，在最小的铜盖与一级铜台之间同样会形成封闭的样品空间6。[0021]利用一级铜盖51外围包裹的主热源4通电加热后，即可在样品空间6内形成相对稳定的温度环境。设置在主热源4上的第二温度计31可以测试出主热源4的温度，并且发送给温度监控系统8，温度监控系统8按照预先设置好的程序，控制主热源4缓慢加热，即实现内部空间6的缓慢加热。
[0022]在所述样品空间6内设置有第一热电偶21和第二热电偶22，将测试样放置在第一热电偶21上，参照物放置在第二热电偶22上(根据情况可以是将材料放置在坩埚内，再将坩埚分别放置在热电偶上)。所述的第一热电偶21和第二热电偶22是采用半导体热电偶，半导体热电偶是由许多对P型和N型的半导体结构并列的连接组成。它具有塞贝克效应(Seebeck效应)，即上下两个结合面之间存在温度差的时候，两个面之间就会有电压，而且这个电压值与所用半导体材质和当前温度差值存在唯一的对应关系。
[0023]第一热电偶21和第二热电偶22是两个采用相同半导体材质的的半导体热电偶，它们与铜台接触的那一面用导线相互