文档介绍：无损检测
超声波试题（UT二级）
一、是非题
。 V
。 X （应该是机械波）
由于机械波是由机械振动产生的，所以波动频率等于振动频率。 V
由于机械波是由机区的长度也就越大°V（个人感觉答案有错，没有前提无法对比）
对同一个直探头来说，在钢中的近场长度比在水中的近场长度大。 X
聚焦探头的焦距应小于近场长度。 V
探头频率越高，声束扩散角越小。 V
超声波探伤的实际声场中的声束轴线上不存在声压为零的点。 V
声束指向性不仅与频率有关，而且与波型有关。 V
超声波的波长越长，声束扩散角就越大，发现小缺陷的能力也就越强。 X
因为超声波会扩散衰减，所以检测应尽可能在其近场区进行。 X
因为近场区内有多个声压变为零的点，所以探伤时近场区缺陷往往会漏检。 X
如超声波频率不变，晶片面积越大，超声波的近场长度越短。 X
面积相同，频率相同的圆晶片和方晶片，超声场的近场长度一样长。 V
面积相同，频率相同的到晶片和方晶片，其声束指向角亦相同。 X
超声场的近场长度愈短，声束指向性愈好。 X
声波辐射的超声波的能量主要集中在主声束内。 V
，总是在声束中心轴线上的声压为最高。X （近场区内轴线上的声压不一定最高）
，提高探伤灵敏度。 X（应是提高频率）
。X（近场区与远场区各横截面上声压分布不同）
在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声压不随距离增加而改变。 V
斜角探伤横波声场中假想声源的面积大于实际声源面积。 X
频率和晶片尺寸相同时，横波声束指向性比纵波好。 V
圆晶片斜探头的上指向角小于下指向角。 X
如斜探头入射点到晶片的距离不变，入射点到假想声源的距离随入射角的增加而减小。 V
200mm处①4长横孔的回波声压比100mm处①2长横孔的回波声压低。 V
球孔的回波声压随距离的变化规律与平底孔相同。 V
同声程理想大平面与平底孔回波声压的比值随频率的提高而减小。 V
，曲底面回波声压与同声程理想大平面相同。V
对空心圆柱体在内孔探伤时，曲底面回波声压比同声程大平面低。 X
，发射超声波是利用正压电效应，接收超声波是利用逆压电效应。X
。 X（调节增益作用是改变接收放大器的放大倍数）
，石英作为压电材料性能稳定、机电耦合系数高、压电转换能量损失小等优点。X
与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。 V
使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。 V
。V
。 X
B 型显示能够展现工件内缺陷的埋藏深度。 V
C 型显示能展现工件中缺陷的长度和宽度，但不能展现深度。 V
通用 AVG 曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离，适用于不同规格的探头。 V
在通用 AVG 曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。 X
A型显示探伤仪，利用DGS曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度。 V
电磁超声波探头的优点之一是换能效率高，灵敏度高。 X
°X（应是交替工作）
探伤仪中的发射电路亦称为触发电路。 X （同步电路又称触发电路）
探伤仪中的发射电路亦可产生几百伏到上千伏的电脉冲去激励探头晶片振动。 V
。X（扫描电路又称时基电路，用来产生锯齿波电压施加到示波管水平偏转板上，产生一条水平扫描时基线）
，发射强度愈弱。X（改变阻尼是调节发射脉冲的电压幅度和脉冲宽度，阻值越大，发射强度越强，发射声能越多，分辨力越小。）
“深度细调”旋钮时，可连续改变扫描线扫描速度°V（从而使荧光屏上回波间距大幅度地压缩或扩展）
调节探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。 X
调节探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。 X
，因此不同压电材料的频率常数也不相同。V
不同压电材料的频率常数不一样，因此用不同压电材料制作的探头其标称频率才能相同。 X
（d33）大，贝V说明该晶片接收性能好°X（压电应变常数d33大，发射性能好，发射灵敏度高）