文档介绍：可靠性试验规范-试验方法
目次
1 范围 1
2 术语和定义 1
实验室环境(Laboratory environment) 1
3 试验项目 1
A组环境可靠性试验 1
B组结构可靠性试验 10
4 记录 18
附录 A 外观检查项目 19
附录 B 功能检查项目 20
附录 C 射频检查项目 21
图表目录
表1 外观检查项目 19
表2 功能检查项目 20
表3 射频指标检查项目 21
可靠性试验规范-试验方法
范围
术语和定义
实验室环境(Laboratory environment)
温度T = 20 – 25 ℃,相对湿度RH = 40 – 60 %。
试验项目
A组环境可靠性试验
气候环境试验
低温运行
试验目的:验证样品在低温环境下使用的适应性。
试验参数:
温度要求:-30℃(CDMA手机,Gota产品,车载产品);
-20℃(便携式手机);
-10℃(网卡、接入盒、固定台、监视终端);
持续时间:16H(温度稳定后开始计算);
电压拉偏:在开机电压下进行试验( V 进行电压拉偏试验);
测试样机数:不小于5台。
测试设备:综合测试仪,温度试验箱
试验步骤:
在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。
将待测样机放进温度试验箱,连接好充电器,开机,样机处于充电待机状态。
温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温下降到设定的温度。
温度达到稳定后持续运行4小时,对试验样机进行在线射频监测。量测时,样机不应从试验箱中取出。
接着,使样机的处于开机电压( V)下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为4小时,然后对样机的射频性能按附录B进行测试。量测完成后,温度试验箱内温度以1℃/min的速率从低温恢复到常温。
例图1:低温运行曲线
将样机从箱内拿出来立即按附录A和附录B进行外观功能测试。
判断标准:
外观结构满足附录A要求
性能指标满足附录B要求。
射频指标满足附录C的要求。
高温运行
参考标准:GB/T -2001 试验B:高温
GB/T -2005 温度和湿度
GB/T 携带和非固定使用
试验目的:验证样品在高温环境下使用的适应性。
试验参数:
温度要求:60℃
持续时间:16H(温度稳定后开始计算);
电压拉偏:在开机电压下进行试验( V 进行电压拉偏试验);
测试样机数:不小于5台。
测试设备:综合测试仪,温度试验箱
试验步骤:
在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。
将待测样机放进温度试验箱,连接好充电器,开机,样机处于充电待机状态。
温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温上升到设定的温度。
温度达到稳定后持续运行4小时,对试验样机进行在线射频监测。量测时,样机不应从试验箱中取出。
接着,使样机的处于开机电压( V)下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为4小时,然后对样机的射频性能按附录B进行测试。量测完成后,温度试验箱内温度以1℃/min的速率从高温恢复到常温。
例图2:高温运行曲线
将样机从箱内拿出来按附录A和附录B进行外观功能测试。
判断标准:
外观结构满足附录A要求
性能指标满足附录B要求。
射频指标满足附录C的要求。
低温存储
试验目的:验证样品在低温环境中运输、存储的适应性。
试验参数:
温度要求:-40℃
持续时间:24H(温度稳定后开始计算);
测试样机数:不小于5台。
测试设备:综合测试仪,温度试验箱
试验步骤:
在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。
将待测样机以关机状态放进温度试验箱。
温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温下降到-40℃。
温度达到稳定后持续运行16小时后,温度试验箱内温度以1℃/min的速率恢复到常温。
将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。
判断标准:
外观结构满足附录A要求
性能指标满足附录B要求。
射频指标满足附录C的要求。
高温存储
试验目的:验证样品在高温环境中运输、存储的适应性。
试验参数:
温度要求:-85℃
持续时间:24H(温度稳定后开始计算);
测试样机数:不小于5台。
测试设备:综合测试仪,温度试验箱
试验步骤:
在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。
将待测样机以关机状态放进温度试验箱。
温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温上升到+85℃。
温度达到稳定后持续运行16小时,温度试验箱内温度以1℃/min的速率恢复到常温。
将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附