可靠性试验规范.doc

文档介绍：可靠性试验规范
I
目次
1 范围.............................................................................. 1
2 术语和定义........................................................................ 1
实验室环境(Laboratory environment) ............................................... 1
3 试验项目.......................................................................... 1
A组环境可靠性试验.............................................................. 1
B组结构可靠性试验............................................................. 10
4 记录............................................................................. 17
附录 A 外观检查项目............................................................. 18
附录 B 功能检查项目............................................................. 19
附录 C 射频检查项目............................................................. 20 图表目录
表1 外观检查项目................................................................... 18
表2 功能检查项目................................................................... 19
表3 射频指标检查项目............................................................... 20
II
1 范围
2 术语和定义
实验室环境(Laboratory environment)
温度T = 20 – 25 ℃,相对湿度RH = 40 – 60 %。
3 试验项目
A组环境可靠性试验
气候环境试验
低温运行
a) 试验目的:验证样品在低温环境下使用的适应性。
b) 试验参数:
1) 温度要求:-30℃(CDMA手机,Gota产品,车载产品);
-20℃(便携式手机);
-10℃(网卡、接入盒、固定台、监视终端);
2) 持续时间:16H(温度稳定后开始计算);
3) 电压拉偏:在开机电压下进行试验( V 进行电压拉偏试验);
4) 测试样机数:不小于5台。
c) 测试设备:综合测试仪,温度试验箱
d) 试验步骤:
1) 在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。
2) 将待测样机放进温度试验箱,连接好充电器,开机,样机处于充电待机状态。
3) 温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温下降到设定的温度。
4) 温度达到稳定后持续运行4小时,对试验样机进行在线射频监测。量测时,样机不应从试验箱中取出。
5) 接着,使样机的处于开机电压( V)下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为4小时,然后对样机的射频性能按附录B进行测试。量测完成后,温度试验箱内温度以1℃/min的速率从低温恢复到常温。
例图1:低温运行曲线
1
6) 将样机从箱内拿出来立即按附录A和附录B进行外观功能测试。
e) 判断标准:
1) 外观结构满足附录A要求
2) 性能指标满足附录B要求。
3) 射频指标满足附录C的要求。
高温运行
a) 参考标准:GB/T -2001 试验B:高温
GB/T -2005 温度和湿度
GB/T 携带和非固定使用
b) 试验目的:验证样品在高温环境下使用的适应性。
c) 试验参数:
1) 温度要求