文档介绍：任务6-1:电子元器件的质量检验(IQC)
质量检验是生产活动的组成部分,其目的在于确保产品质量达到标准规定的技术要求。因此,质量检验是企业管理工作的重要组成部分,也是全面质量管理不可缺少的组成部分。为了保证电子整机产品能够稳定、可靠地长期工作,必须对电子产品组装物料进行来料检验与质量评估。
任务描述
⒈掌握LCR数字电桥和半导体管特性图示仪的原理和使用方法,能够熟练使用测试仪进行元器件性能参数检测。
⒉了解GB/T -2003/ISO02859-1:1999 计数抽样检验程序,掌握元器件来料检测方法、工作流程与要求。
⒊根据入库单上元器件的批量大小及质量验收标准,对要入库的元器件进行来料检验与质量评估。
任务要求
物料的检验与验收知识
GB/T -2003/ISO02859-1:1999 计数抽样检验程序
常规元器件测试仪器与检测设备
资讯
⒈检验:就是对产品的一个或多个特性进行的诸如测量,检查,试验或量度并将结果同规定要求进行比较,以确定每项特性合格情况所进行的活动。
抽样检验:就是从一批产品中随机抽取一部分进行的活动。
一、抽样检验相关术语
⒉抽样方案: 规定了每批应检验的单位产品数(样本量或系列样本量)和有关批接收准则(包括接收数,拒收数等)的一个具体方案。
⒊计数值抽样检验:在判断一批产品是否可接收时,只计算样本中不合格品数或缺陷数的抽样方法称为计数值抽样检验。
⒋检验批: 为实施抽样检验而集中起来,在一致条件下生产或按规定方式汇集起来的一定数量的单位产品称作批,而提交检验的一批产品称作检验批,总体含量用N表示。
⒌样本:把随机抽出供检查用的这部分产品称为样本,用n来表示。
⒍缺陷:单位产品使用时不满足预期要求或不满足合理的期望。
致命缺陷(CR---CRITICAL):又称A类不合格。造成产品功能完全丧失或重要功能丧失,以及严重影响公司信誉和客户满意度的缺陷。
主要缺陷(MA---MAJOR):又称B类不合格。造成产品功能不全,不能达到预期使用效果,或配件不全及严重影响产品外观的缺陷。
次要缺陷(MI---MINOR):又称C类不合格。不影响产品的使用功能,轻微外观不足。
⒎不合格:单位产品的任何一个质量特性不符合规定要求。具体分类有:
A类不合格:单位产品的极重要特性不符合规定,或单位产品的质量特性极严格不符合规定。
B类不合格:单位产品重要特性不符合规定,或单位产品的质量特性严重不符合规定。
C类不合格:单位产品的一般特性不符合规定,或单位产品的质量特性轻微不符合规定。
⒏不合格品:有一个或一个以上不合格的单位产品,称为不合格品。具体分类有:
A类不合格:有一个或一个以上A类不合格,也可能还有B类不合格和C类不合格的单位产品。
B类不合格:有一个或一个以上B类不合格,也可能还有C类不合格,但没有A类不合格的单位产品。
C类不合格品:有一个或一个以上C类不合格,但没有B类不合格,也没有A类不合格的单位的产品。