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实验一 集成逻辑门电路逻辑功能测试.pdf

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实验一 集成逻辑门电路逻辑功能测试.pdf

文档介绍

文档介绍:实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试
一、实验目的
1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。
2、掌握各种 TTL 门电路的逻辑功能。

二、实验原理
门电路是数字逻辑电路的基本组成单元,门电路按逻辑功能可分为:与门、
或门、非门及与非门、或非门、异或门、同或门、与或非门等。若按照电路结构
组成的不同,可分为分立元件门电路、CMOS 集成门电路、TTL 集成门电路等。各
种集成门电路通常都封装在集成芯片内。常用集成门电路的引脚排列图如下,这
些集成电路的封装形式均为双列直插式。双列直插式集成电路的右下方通常是地
线 GND,左上方引脚一般是电源线 Vcc,其它引脚的用途如图中门电路的符号所
示,每个集成电路都有自己的代号,与代号对应的名称形象地说明了集成电路的
用途。如:74LS00 是二输入端四与非门,它说明这个集成电路中包含了四个二
输入端的与非门。


1
三、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱 1 台
2、元器件:
74LS08(二输入端四与门)、74LS32(二输入端四或门)、74LS04(六反相器)、
74LS00(二输入端四与非门)、74LS20(四输入端二与非门)、74LS86(二输入端
四异或门)、CD4002(四输入端二或非门)各 1 片;导线若干

四、实验内容
74LS08(二输入端四与门)的逻辑功能
(1)熟悉 74LS08 二输入端四与门管脚排列外引线分布如图 a 所示。
(2)测试与门逻辑功能:将 74LS08 芯片正确插入面包板,并注意识别第 1 脚位
置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第 1 脚)。在 74LS08 芯片中选一个
与门,如由 123 脚组成,将两输入端(1 脚和 2 脚)用导线与数字逻辑实验箱的
逻辑开关相连,输出端(3 脚)接发光二极管,7 脚接地线,14 脚接+5V 电源。
当输出端为高电平时,发光二极管亮;当输出端为低电平时,发光二极管不亮。
输入不同的信号组合,记录相应的输出逻辑电平,填入表一。

74LS32(二输入端四或门)的逻辑功能
(1)熟悉 74LS32 二输入端四或门管脚排列外引线分布如图 d 所示。
(2)测试或门逻辑功能:将 74LS32 正确插入面包板,并注意识别第 1 脚位置(集
成块正面放置且缺口向左,则左下角为第 1 脚)。在 74LS32 芯片中选一个或门,
输入端通过逻辑开关接高、低电平,输出端接发光二极管。输入不同的信号组合,
记录相应的输出逻辑电平,填入表一。

74LS04(六反相器)的逻辑功能
(1)熟悉 74LS04 六反相器的管脚排列外引线分布如图 a 所示。
(2)测试 74LS04(六反相器)的逻辑功能。将 74LS04 正确插入面包板,并注
意识别第 1 脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第 1 脚)。在 74LS04
中选一个非门,输入端通过逻辑开关接高、低电平,输出端接发光二极管。输入
不同的信号组合,记录相应的输出逻辑电平,填入表一。

2
74LS00(二输入端四与非门)的逻辑功能
(1)熟悉 74LS00 二输入端四与非门的管脚排列外引线分布如图 a 所示。
(2)测试 74LS00(二输入端四与非门)的逻辑功能。将 74LS00 芯片正确插入
面包板,并注意识别第 1 脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第 1
脚)。在 74LS00 芯片中选一个与非门,输入端通过逻辑开关接高、低电平,输出
端接发光二极管。输入不同的信号组合,记录相应的输出逻辑电平,填入表一。

74LS20(四输入端二与非门)的逻辑功能
(1)熟悉 74LS20 四输入端二与非门的管脚排列外引线分布如图 b 所示。
(2)测试 74LS20(四输入端二与非门)的逻辑功能。将 74LS20 芯片正确插入
面包板,并注意识别第 1 脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第 1
脚)。在 74LS20 芯片中选一个与非门,输入端通过逻辑开关接高、低电平,输出
端接发光二极管。输入不同的信号组合,记录相应的输出逻辑电平,填入表一。

74LS86(二输入端四异或门)的逻辑功能
(1)熟悉 74LS86 二输入端四异或门的管脚排列外引线分布如图 a 所示。
(2)测试 74LS86(二输入端四异或门)的逻辑功能。将 74LS86 芯片正确插入
面包板,并注意识别第 1 脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第 1
脚)。在 74LS86 芯片中选一个异或门,输入端通过逻辑开关接高、低电平,输

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