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试验一门电路逻辑功能测试及逻辑变换.doc

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试验一门电路逻辑功能测试及逻辑变换.doc

上传人:likuilian1 2018/5/23 文件大小:382 KB

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试验一门电路逻辑功能测试及逻辑变换.doc

文档介绍

文档介绍:实验一门电路逻辑功能测试及逻辑变换
:


、数字万用表、双踪示波器的使用方法。
:
1. TPE—D6Ⅲ型数字电路实验箱 1台
1台
1块
: 74LS20 双4输入与非门 1片
74LS04 六反相器 1片
74LS86 四2输入异或门 1片
74LS00 四2输入与非门 1片
:
、逻辑函数式、真值表。
,熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。
:
:
(1)静态测试法:就是给门电路输入端加固定高、低电平,用万用表、发光二极管等测输出电平。
(2)动态测试法:就是给门电路输入端加一串脉冲信号,用示波器观测输入波形与输出波形的关系。
:
(1)与非门的逻辑功能:有0出1,全1出0。
与非门的逻辑函数式:Y=AB
74LS20为双4输入与非门, 即在一块集成块内含有二个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端。。
(2)非门的逻辑功能:有1出0,有0出1。
非门的逻辑函数式:Y= A
74LS04为六反相器, 即在一块集成块内含有六个互相独立的非门,
(3)异或门的逻辑功能:相同出0,相反出1。
异或门的逻辑函数式:Y=A⊕B=AB+AB
74LS86为四2输入异或门,即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。。
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VCC 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND
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VCC 2D 2C NC 2B 2A 2Y
1A 1B NC 1C 1D 1Y GND
&
&
74LS20
74LS04
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VCC 6A 6Y 5A 5Y 4A 4Y
1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y GND
74LS00
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VCC 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND

:就是用与非门等组成其它门电路。
方法:先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式,再画出相应逻辑图,然后用与非门实现之。
:
实验前先检查实验箱电源是否正常,然后选择实验用的集成电路,按接线图连线。及地线不能接错。线接好后经指导教师检查无误方可通电。实验中改动接线必须先断开电源,接好线后再通电实验。

(1)测出双4输入与非门74LS20的逻辑功能:
,二个输入端A、B接电平开关(K1~