文档介绍：错,第一句话是对的,后面错了,只能说频率相同,波速跟振子的振动速度肯定不相同.
错, 一般固体中的声速随介质温度升高而降低。
错, 灵敏度合适就行.
错, 超声波的扩散衰减与波型、声程有关.
错,探头磨损,法线发生了变化,前端磨损,k值变小,后端磨损,K值变大。
错,超声波在介质中的传播速度与介质的弹性模量和密度等有关,跟频率没有关系.
对,曲率半径跟曲率成反比, 曲率半径越大,曲率越小,.
对,介质衰减系数a等于散射衰减系数as和吸收衰减系数αα之和。又CL>Cs,那么横波的散射衰减大于纵波,衰减系数大,相对传播的距离就小,就如人的体质要是差的话,走的路程就相对少了。
对,“凹小聚,”这句话,要变就变2个字,”聚”字没变,那前2个字就得变了,即凸大.
对,在其他条件相同时,横波声束的指向性比纵波好,横波能量更集中一些。因为横波波长比纵波短。
错. 晶片面积越大,.
对,上半扩散角大于小半扩散角.
错, 如若波长频率一定,N越小,Ds越小,θ越大,声束的指向性越差.
对,压电应变常数d33是衡量压电晶体材料发射灵敏度高低的重要参数。d33值大,接收性能好,接收灵敏度高。
对,长横孔直径一定,距离增加一倍,其回波下降9dB。
平底孔直径一定,距离增加一倍,其回波下降12dB。
短横孔直径和长度一定,距离增加一倍,其回波下降12dB,与平底孔变化规律相同。
错,声压往复透射率与界面两侧介质的声阻抗有关,与从何种介质入射到界面无关。界面两侧分质的声阻抗相差愈小,声压往复透射率就愈高,反之就愈低。
错,斜角探伤的影响更为小些.(这题不是特别确定)
错, 中心切槽的半圆试块,其反射特点是多次回波总是等距离出现.
错,工件表面粗糙,应该用软保护膜.
错,发射是逆压电效应,接收是正压电效应.
A, 纵波又称为压缩波或疏密波。横波又称为切变波.
D, CL>Cs>CR
B
B,当探头从圆柱曲面外壁作周向探测时,弧长L总比水平距离I值大,但深度H却总比d值小。而且差值随d值增加而增大.
, △12=201gPf1/Pf2=20lg2=6db

=C/f, θ=70λ/DS

, 在设计探头中的压电晶片时,应使高频电脉冲的频率等于压电晶片的固有频率,从而产生共振,这时压电晶片的电声能量转换效率最高,探伤灵敏度最高.
,表面粗糙的缺陷,当声波垂直入射时,声波被乱反射。同时各部分反射波由于有相位差而产生干涉,使缺陷回波波高随粗糙度的增大而下降。当声波倾斜入射时,缺陷回波波高随着凹凸程度与波长的比值增大而增高。
, 阻尼块使晶片起振后尽快停下来,从而使脉冲宽度变小,分辨力提高。

1. 探伤灵敏度是指在确定的声程范围内发现规定大小缺陷的能力. 调整探伤灵敏度的常用方法有试块调整法和工件底波调整法两种。
2. 采用当量法确定的缺陷尺寸是缺陷的当量尺寸。常用的当量法有当量试块比较法、当量计算法和当量AVG曲线法。
3. (1).确定探伤灵敏度
(2)测试仪器和探头的性能
超声波探伤仪和探头的一些重要性能,如放大线性、水平线性、动态范围、灵敏度余量、分辨力、盲区、探头的入射点、K值等都是利用试块来测试的。
(3)调整扫描速度
利用试块可以调整仪器示波屏上水平刻度值与实际声程之间的比例关系,即扫描速度,以便对缺陷进行定位。
(4)评判缺陷的大小
利用某些试块绘出的距离一波幅一当量曲线(即实用AVG)来对缺陷定量是目前常用的
4. 当工件缺陷尺寸大于声束截面时,一般采用测长法来确定缺陷的长度。
测长法是根据缺陷波高与探头移动距离来确定缺陷的尺寸。按规定的方法测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。根据测定缺陷长度时的灵敏度基准不同将测长法分为相对灵敏度法、绝对灵敏度法和端点峰值法。