文档介绍：实验一电力晶体管(GTR)驱动电路研究
、输出延时时间与电流传输比测试
-07电力电子实验箱
(1)开关S1、S2打向“通”,将脉冲占空比调节电位器RP顺时针旋到底,用示波器观察1和2点间的PWM波形,即可测量脉冲宽度、幅度与脉冲周期,并计算出频率f与占空比D,填入表2—1。
表2—1
幅度(Vp-p)
宽度(ms)
周期(ms)
频率f(kHz)
占空比D
S2:通
RP:右旋
S2:通
RP:左旋
S2:断
RP:右旋
S2:断
RP:左旋
(2)将电位器RP左旋到底,测出f与D,填入表2—1。
(3)将开关S2打向“断”,测出这时的f与D,填入表2—1。
(4)电位器RP顺时针旋到底,测出这时的f与D,填入表2—1
(5)将S2打在“断”位置,然后调节RP,使占空比D=。
(1)输入电阻为R1=,关门延时时间测试
“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连,再分别连接GTR单元的“3”与“5”,“9”与“7”及“6”与“11”,即按照以下表格的说明连线。
GTR :1
PWM:1
GTR:6
PWM:2
GTR:3
GTR:5
GTR:9
GTR:7
GTR:6
GTR:11
“”,用双踪示波器观察输入“1”与“6”及输出“7”与“11”之间波形,记录开门时间ton(含延迟时间td和下降时间tf)以及关门时间toff(含储存时间ts和上升时间tr),填入表2—2。
表2—2 R=
td
tf
ton
ts
tr
toff
(2)输入电阻为R2=150W时的开门,关门延时时间测试
将GTR单元的“3”与“5”断开,并连接“4”与“5”, 调节电位器RP顺时针旋到底(使RP短接),其余同上,记录开门、关门时间,填入表2—3。
表2—3 R=150
td
tf
ton
ts
tr
toff
(3)输入加速电容对开门、关门延时时间影响的测试
断开GTR单元的“4”和“5”,将“2”、“3”与“5”相连,即可测出具有加速电容时的开门、关门时间,填入表2—4。
表2—4 接有加速电容
td
tf
ton
ts
tr
toff
(4)输入、输出电流传输比(CTR)测定
电流传输比定义为CTR=输出电流/输入电流
GTR单元的开关S1合向“5V”,S2打向“通”,连接GTR的“6”和PWM波形发生器的“2”,分别在GTR单元的“4”和“5”以及“9”与“7”之间串入直流毫安表,电位器RP左旋到底,测量光耦输入电流Iin、输出电流Iout。
改变RP(逐渐右旋),分别测量5-6组光耦输入,输出电流,填入表2—5。
表2—5 输入、输出电流传输比(CTR)测定
Iin(mA)
Iout(mA)
CTR
,输出延时时间测试
GTR单元的开关S1合向“”, 将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连,再分别连接GTR单元的“3”与“5”,“9”与“7”及“6”与“11”、“8”,即按照以下表格的说明连线。
GTR :1
PWM:1
GTR:6
PWM:2
GTR:3
GTR:5
GTR:9
GTR:7
GTR:6
GTR:11
GTR:8
用双踪示波器观察GTR单元输入“1”与“6”及驱动电路输出“14”与“11”之间波形,记录驱动电路的输入,输出延时时间。
td=
(1)不加贝克箝位电路时的GTR存贮时间测试。
GTR单元的开关S1合向“”, 将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连,再分别连接GTR单元的”2“、“3”与“5”,“9”与“7”,“14”与“19”,“29”与“21”,以及GTR单元的“8”、“11”、“18”与主回路的“4”,GTR单元的“22”与主回路的“1”,即按照以下表格的说明连线。
GTR :1
PWM:1
GTR:6
PWM:2
GTR:3