文档介绍：初级用户手册
78K0/KF2
8-位单片微控制器
μPD78F0544
μPD78F0545
μPD78F0546
μPD78F0547
μPD78F0547D
μPD78F0547D 具有片上调试功能。
大规模生产时不要使用本产品,因为闪存可重写的次数是一定的,在使用片上调试功能后,不能保证它的可靠
性。
文档编号 U17397EJ2V1UD00 (第二版)
发行日期 2005 年 7 月 N CP(K)
2005
日本印制
[备忘录]
2 U17397EJ2V1UD 初级用户手册
CMOS 设备注意事项
①输入引脚处的电压波形
输入噪音或一个反射波引起的波形失真可能导致错误发生。如果由于噪音等的影响使CMOS设备的输入电
压范围保持在VIL(MAX)和VIH(MIN)之间,设备可能发生错误。在输入电平固定时以及输入电平从VIL (MAX)过
渡到VIH (MIN)时的传输期间,要防止散射噪声影响设备。
②未使用的输入引脚的处理
CMOS设备的输入端保持开路可能导致误操作。如果一个输入引脚未被连接,则由于噪音等原因可能会产
生内部输入电平,从而导致误操作。CMOS设备的操作特性与Bipolar或NMOS设备不同。CMOS设备的输入电
平必须借助上拉或下拉电路固定在高电平或低电平。每一个未使用引脚都应该通过附加电阻连接到VDD或
GND。如果有可能尽量定义为输出引脚。对未使用引脚的处理因设备而异,必须遵循与设备相关的规定和说
明。
③ ESD防护措施
如果MOS设备周围有强电场,将会击穿氧化栅极,从而影响设备的运行。因此必须采取措施,尽可能防
止静电产生。一旦有静电,必须立即释放。对于环境必须有适当的控制。如果空气干燥,应当使用增湿器。建
议避免使用容易产生静电的绝缘体。半导体设备的存放和运输必须使用抗静电容器、抗静电屏蔽袋或导电材料
容器。所有的测试和测量工具包括工作台和工作面必须良好接地。操作员应当佩戴静电消除手带以保证良好接
地。不能用手直接接触半导体设备。对于装配有半导体设备的PW板也应采取类似的静电防范措施。
④初始化之前的状态
在上电时MOS设备的初始状态是不确定的。在刚刚上电之后,具有复位功能的MOS设备并没有被初始
化。因此上电不能保证输出引脚的电平,I/O设置和寄存器的内容。设备在收到复位信号后才进行初始化。具有
复位功能的设备在上电后必须立即进行复位操作。
⑤电源开关顺序
在一个设备的内部操作和外部接口使用不同的电源的情况下,按照规定,应先在接通内部电源之后再
接通外部电源。当关闭电源时,按照规定,先关闭外部电源再关闭内部电源。如果电源开关顺序颠倒,可能会
导致设备的内部组件过电压,产生异常电流,从而引起内部组件的误操作和性能的退化。
对于每个设备电源的正确开关顺序必须依据设备的规范说明分别进行判断。
⑥电源关闭状态下的输入信号
不要向没有加电的设备输入信号或提供I/O上拉电源。因为输入信号或提供I/O上拉电源将引起电流注入,
从而引起设备的误操作,并产生异常电流,从而使内部组件退化。
每个设备电源关闭时的信号输入必须依据设备的规范说明分别进行判断。
U17397EJ2V1UD 初级用户手册 3
EEPROM是NEC Electronics Corporation的商标。
Windows和WindowsNT是Microsoft Corporation在美国及其他国家的注册商标和商标。
PC/AT是International Business Machines Corporation的商标。
HP9000系列700和HP-UX是Hewlett-pany的商标。
SPARCstation是SPARC International, 。
Solaris和SunOS是Sun Microsystems, 。
SuperFlash®是 Silicon Storage Technology, ,已经在美国和日本等几个国家使用。
注意事项:该产品使用的®技术获得了公司的授权。