文档介绍：草-制1020386Intergratedcircuits−icImmunity,150kHzto1GHz−Part4:DirectRFpowerinjectionmethod編訂說明:本案建議案號為「建-制1020128」,草案編號為「草-制1020386」,係由本局第六組委外編擬,依程序辦理徵求意見,敬請惠賜卓見。目錄節次 頁次前言 21. 範圍 32. 引用標準 33. 名詞(術語)與定義 44. 通則 量測基本原理 單支接腳之直接功率注入法 多重接腳直接功率注入差模系統 95. 測試環境 106. 測試設備 通則 射頻功率源 射頻功率計和方向耦合器 117. 測試設置 通則 功率注入設置 測試電路板 功率注入配置的特性 去耦合網路 158. 測試程序 通則 特定量測程序 179. 測試報告 19附錄A(參考)電磁耐受性位準規範之範例(例如:汽車之應用) 20附錄B(參考)射頻測試設置的最佳安裝提示 22附錄C(參考)說明峰值級別測試 34參考目錄 . 範圍ThispartIEC62132describesamethodtomeasuretheimmunityofintegratedcircuits(IC)inthepresenceofconductedRFdisturbances,???-4)描述一個方法去量測積體電路(IC)對傳導射頻(RF)擾動之耐受性,而且此方法保證電磁耐受性之量測能有高度的重複性和相關性。,用來評估在有不需要射頻電磁波環境中,運作的設備所使用之半導體元件。. ,,thelatesteditionofthereferenceddocument(includinganyamendments),下列參考文件是不可缺少的,有註明日期的參考資料,只有引用的版次是適用的,沒有註明日期的參考資料,則可使用最新版本的參考資料(包含任何修正資料)。IEC61967-4,Integratedcircuits–icemissions,150kHzto1GHz–Part4:Measurementofconductedemissions–1Ω/150ΩdirectcouplingmethodIEC61967-4:積體電路(IC)-電磁干擾量測,150kHz至1GHz-第4部:傳導放射量測法−1Ω/150Ω直接耦合法。IEC62132-1:2006,Integratedcircuits–icimmunity150kHzto1GHz-Part1GeneralconditionsanddefinitionsIEC621321-1:2006,積體電路(IC)-150kHz至1GHz之電磁耐受性量測法-第1部通則與定義。IEC61000-4-patibility(EMC)–Part4-6:Testingandmeasurementtechniques–immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfieldsIEC61000-4-6電磁相容-第4部至第6部:測試與量測技術-由射頻電磁場所引的傳導擾動之電磁耐受性。CISPR16-1-2:2003,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods–part1-2:,ConducteddisturbancesCISPR16-1-2:2003射頻擾動與電磁耐受性量測儀器與方法之規範-第1部至第2部:射頻擾動與電磁耐受性量測儀器,輔助設備,傳導擾動。