文档介绍：实验一、逻辑门电路测试一(共2周)一、实验内容:测量DTL与非门74LS00参数测量一个与非门2输入端的Ird测量一个与非门2输入端的Vs、Vx、VOH、VOL测量一个与非门2输入端的Rs和Rx测量输入端分别接高/低电平情况下,芯片静态空载及有载功耗测量芯片动态有载功耗,输入方波频率定为1kHz、100kHz、1MHz选择CD4011,重做内容1中的(4)和(5)项观测CD4011的输入输出传输特性用示波器双通道观测该芯片的输入输出电压传输特性曲线输入100kHz方波信号,记录输入输出的电压波形,估算该门电路的平均延迟时间二、思考题 1、2、3实验二、逻辑门电路测试二;实验四、晶体振荡器一、实验内容:用环形振荡器测量门的延迟时间(74LS00)用脉冲形成法测量门的延迟时间(74LS00)设计实现1us的脉冲生成电路,记录波形(CD4011)组成串联型晶体振荡器电路,观察并记录G3前后波形,测量振荡频率(74LS00)组成高Q电感型晶体振荡器电路,观察并记录G3前后波形,测量振荡频率(74HC00)二、思考题 (二)、2、3 (四)、3、4实验三、单稳态电路与无稳态电路一、实验内容:用阻容延迟电路组成单稳态及无稳态电路按图E3-2用74LS00组成单稳态电路,观察并记录各点信号波形;(选做)用双脉冲信号作为触发,观察变化;按图E3-3用74LS00组成无稳态电路,观察并记录各点信号波形;按图E3-9用CD4011多谐波振荡器,观察并记录各点信号波形;(选做)改变其中一边的延迟值,观察现象并定性分析;按图E3-5用D触发器CD4013组成单稳态电路,观察并记录主要信号波形;(选做)按图E3-8用集成单稳芯片74HC123组成单稳态电路,观察并记录主要信号波形二、思考题 1、2实验五、组合逻辑电路的应用一、实验内容:全加器:用异或门74LS86和与非门74LS00实现两位二进制全加器,并进行适当验证;分配器:用3-8译码器74LS138实现数据分配器。在输入端加入方波,通过不同地址码设置从不同输出端测试,并记录输出波形;分时传输:用8-1选择器74LS151和3-8译码器74LS138组成多路数字信号分时传输电路,测试并记录相应的波形传输关系;数值比较器:针对数值比较器74LS85,选择几种输入组合,观察并比较输出结果,验证其逻辑功能;四舍五入电路:用数值比较器74LS85构成一个四舍五入电路。当输入数值大于等于5时,输出F=1;否则输出F=0。连接电路并验证该逻辑功能;二、思考题 1、3实验六、计数器和脉宽测量一、实验内容:以信号发生器为时钟源调试时钟整形电路,并分别调试两路计数及显示电路,记录必要的信号波形及现象;设计一路N进制(0<N<10)加减计数器,用1KHz时钟信号测量并记录计数器各点信号波形;(如10进制加计数器、7进制减计数器)设计实现两路级联的100进制连续加减计数器,输入低频时钟信号(如1Hz),观察数码管显示,注意溢出指示;设计实现简单的脉宽测量仪,用以测量按键时间或外接脉冲宽度,溢出时要求有溢出指示;二、思考题 1实验七、同步时序系统设计(共4周)一、实验内容:子模块电路测试:基本时钟子模块电路中CD4520计数器的计数、清零和使能功能,记录必要的信号波形关系及现象;显示子模块电路中用/CL2和/CL3控制端测试CD4511锁存译码