文档介绍：摘要模拟的数字集成电路测试生成方法,将新型的智能优化算法应用于电路的测随着现代科技的快速发展,数字集成电路已经被广泛应用于各行各业,于此同时数字集成电路的测试问题也就越来越受到人们的重视。数字集成电路设计、生产、应用的各个必要阶段都离不开测试,设计者为了验证其设计实现正确的功能要进行测试。因此数字集成电路测试生成方法的研究在科技尽管国内外学者不断提出各种数字集成电路的测试生成方法,但测试耗费在电路生产过程中仍占很大比重。从现有关于测试生成的研究来看,测试生成的主要困难在于难测故障的测试、得到的测试集尺寸较大、时序电路在测试前需要进行初始化。为此,本文在并行故障模拟的基础上,研究了基于试生成、测试集优化和时序电路初始化,降低了测试复杂度,减少了需要的首先,针对组合电路测试生成方法的研究现状,提出利用粒子群优化算法、混沌粒子群算法和文化粒子群算法实现组合电路的测试生成。整个测试单故障测试,定义了新的适应度函数。同时提出采用半随机产生初始群体、反矢量故障模拟、逻辑相关的故障分组和排序等加速方法。分别实现了粒子群优化算法、混沌粒子群算法、文化粒子群算法在采用加速方法和不采用加速方法时楹系缏返牟馐陨伞J笛榻峁砻鳎种算法都能其次,针对时序电路在测试前必须进行初始化使触发器到达确定的状态,提出利用粒子群优化算法、混沌粒子群算法和文化粒子群算法实现时序电路的逻辑初始化。并在初始化的基础上实现时序电路的测试生成,定义了新的适应度函数。以毙虻缏肺J笛榈缏方蟹抡妫笛榻峁砻鳎这炙惴苌山隙痰某跏蓟蛄小⒋锏浇细叩墓收细哺锹剩渲谢煦缌子群算法的故障覆盖率最高。的正确性要进行测试;生产者为了保证产品的合格率要进行测试;用户为了迅速发展的今天具有十分重要的意义。存储空间,提高了测试效率。算法由两部分组成:以易测故障为目标的多故障测试和以难测故障为目标的得到文献最好水平的故障覆盖率,同时加速方法大大提高了测试效率,其中基于加速方法的文化粒子群算法得到了最好结果。数字集成电路测试生成算法研究
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再次,针对常规测试方法得到的测试集尺寸较大问题,提出利用粒子群算法、混沌粒子群算法和文化粒子群算法实现电路测试集的静态优化。先对测试集进行预处理,如果测试集含有冗余矢量,则进行测试集优化。算法实现时可以采用两种编码方式:针对测试矢量编码和针对故障编码,相应地有两种适应度函数定义形式,并提出利用混沌搜索产生初始群体、对测试集进行倒序排列模拟。利用这炙惴ㄕ攵圆煌缏方辛个仿真实验。仿真结果表明,这炙惴ň懿煌潭鹊丶跣⊥瓯覆馐约某叽纾渲谢诠障编码的文化粒子群算法能得到最小尺寸的完备测试集。最后,针对现有的可测性设计方法需要施加额外硬件问题,研究只需已知电路逻辑表达式、不需要施加额外硬件的基于多元症候群的组合电路可测性设计,指出它不适用于具有对于所有原始输入都对称的逻辑函数的电路。提出故障值直接前向进行逻辑运算来识别时序电路的冗余故障。利用实例证明了它们的可行性。综上所述,本论文研究了基于智能优化算法的数字集成电路的测试矢量生成、测试集优化和可测性设计。主要采用粒子群优化算法、混沌粒子群算法和文化粒子群算法,并提出了几种加速方法。仿真实验证实,本文所应用的算法和提出的加速方法能够获得很好的效果。关键词:数字集成电路;优化算法;测试生成;测试集优化;可测性设计哈尔滨工程大学博十学位论文
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作者┳:饭轻葡哈尔滨工程大学学位论文原创性声明年歹月/作者本人独立完成的。有关观点、方法、数据和文献的引用己在文中指出,并与参考文献相对应。除文中已注明引用的内容外,本论文不包含任何其他个人或集体已经公开发表的作品成果。对本文的研究做出重要贡献的个人和集体,均已在文中以明确方式标明。本人完全意识到本声明的法律结果由本人承担。日期:孔孵本人郑重声明:本论文的所有工作,是在导师的指导下,由
第滦髀课题的背景和意义的时间与电路的等效门数成平方到立方的关烈。如何提高数字集成电路的集成电路作为信息技术的基础,对我国国民经济发展、国防建设和人民政治、文化、生活各方面都发挥着巨大的作用。随着微电子技术的进步、集成电路规模的不断扩大,数字集成电路的测试生成变得越来越困难,测试成本在整个制造产品过程中所占的比重越来越大,传统的测试方法已不能满足现代数字系统设计、验证的小开销需求,尤其是现在系统的规模越来越大,使得测试的矛盾日益尖锐。为了解决这一矛盾,关于数字集成电路测试生成算法的研究一直进行着,不断寻找