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AT-201晶体管测试仪操作说明书.doc

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AT-201晶体管测试仪操作说明书.doc

上传人:mxh2875 2019/4/16 文件大小:316 KB

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AT-201晶体管测试仪操作说明书.doc

文档介绍

文档介绍:AT-201晶体管测试仪操作说明书一、主要用途:本测试仪性能稳定,能自动读出准确数据,使用方便,适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管,三极管,可控硅,MOS场效应管;能判断器件类型,引脚的极性,输出HFE,阀电压,场效应管的结电容,附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。二、操作说明:①:TEST测试按键;②:LED测试指示灯;③④⑤:测试槽分别1、2、3对应显示屏上显示123脚;⑥:OUTTESTER测试输入接口以颜色黄、绿、红三色对应123脚;⑦:LED充电指示灯⑧:USB标准miniUSB充电接口⑨:LCD测试结果显示屏⑩:“ON”状态。,启动测试键“TEST”键后显示屏上会显示出对应的数据等待10S后自动关机。,可以用外接线与“OUT”孔连接,测试线另一头与器件的引脚连接,并按“TEST”键测试。,就要用到贴片匹配器与本机的测试槽连接并按“TEST”(不使用时)应把“POWERSW”开关置于“OFF”状态,不使用时防止内部电池耗电。本机有自动关机功能,自动关机时的工作电流只有20nA,,LCD屏幕上会显示“BatteryLow!”,这时就要用迷你USB线进行充电,充电时将“POWER”开关置于“OFF”状态,USB接口上方的指示灯会亮,表示充电中…一般充电5-8小时就可以使用。用USB充电器或电脑的USB接口都能进行充电。(1)、测量电容时,必须将电容的电放干净方可接到测试仪上测量,带电的电容容易将测试仪的芯片击毁。不能将带电的器件进行测试,防止内部芯片被击坏。(2)、本仪器如长时间不使用,应将POWERSW开关置于“OFF”状态,至少半个月充一次电,以免电池变质、流液、损坏机件。(3)、当待测试器件是坏的或引脚与测试接触不良时,会影响结果,测不出来数据;显示屏上显示测试失败“TestFailed!DefectDevive.”。三、测试项目例子解说:1、测试屏幕显示如下:表示“测试运行中.”表示“测试失败!缺陷的装置.”表示“时间超时”表示“电池电压低!空的!”表示“NPN管基极B=1表示对应测试槽1脚;集电极C=2表示对应测试槽2脚;发射极E=3表示对应测试槽3;放大倍数hFE=275正向压降Uf=785mV”表示“PNP管基极B对应测试槽1;集电极C对应测试槽2;发射极E对应测试槽3放大倍数hFE=379正向压降Uf=790mV”表示“NPN达林顿管(即复合管)基极B对应测试槽1;集电极C对应测试槽2;发射极E对应测试槽3放大倍数hFE=0正向压降Uf=1207mV”表示“PNP达林顿管(即复合管)基极B对应测试槽1;集电极C对应测试槽2;发射极E对应测试槽3放大倍数hFE=0正向压降Uf=1217mV”表示“N沟道增强型MOS管结电容C==321对应的引脚分别对应测试槽是321脚,开启电压Vt=3612mV”表示“P沟道增强型MOS管结电容C==321对应的引脚分别对应测试槽是321脚,开启电压Vt=3402mV