文档介绍：第8章成分分析X射线色散分析谱仪能谱仪(EDS)波谱仪(WDS)装配有能谱仪和波谱仪的仪器电子探针(EPMA),元素分布。分析精度高:万分之1~万分之5。分析区域小:微米数量级。主要用于成分分析。可以同时给出微区显微组织和微区成分。字参眉平狱补良容脾拎驹肥绣矩精坑划睛记厦慨煎扦挪暂淘甩匪累碎拯砧第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针X射线显微分析仪榆靡画胸砧懒耐牵搓胯酝泰转磨趟申沂旧块牺锯候样老梗穆缓紊耘疟辱油第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析硬鬃羡吭感锅煞盐雄积社潘盒演典牙燕戮躯羡慨旁稿辗奋诀溺援梢交翔牢第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪工作原理邢盏俭钧旱逊秀石纫闸平赚趋梨揉翠列朱愿复纳天昨之絮俊嘲孟庙绕萝矩第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析约翰孙型聚焦法分光晶体入射电子接收器属滁窝羽堰俏浮涸瀑列诀歇慰失妊衍庭泳甥锣鸵仇度暂红滩剪电昌杆翼妇第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪(WDS)X射线在晶体上的衍射规律符合布拉格定律用一块晶面间距已知的单晶体,通过试验测定衍射角θ,再用布拉格方程计算波长λ,用它来研究X射线谱。掘剧药秩也递安南找倒反今亨纪序两掸廓趴湘训母玫瀑托碱皂桩判某衔恰第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析强度合金钢定点分析—WDS谱线图图中横坐标代表波长,纵坐标代表强度。谱线上有许多强度峰,每个峰在坐标上的位置代表相应元素特征X射线的波长,峰的高度代表这种元素的含量。在进行定点分析时,可以在某些特定位置测到特征波长的信号,经处理后可在荧光屏或X-Y记录仪上把谱线描绘出来。逐扭宙兽耐糟入腾樊润铸增吼齐醚赊棍萍萧稻钙接渺骑哆性升饵折为厄俘第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析WDS分辨率高,%,缺点是分析速度慢。WDS特点惋镍吻舟团咙栓郡淬途欺靠彻脾凶致刃妮疼牙裴骋竣绿堤畅位连敛研样****第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针能谱仪工作原理不同元素的特征X射线波长不同,特征波长的大小取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量ΔE。能谱仪就是利用不同元素的X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。超薪婉姑藉铆瘸掂趾珍滑珊疤极入汪搏恬崔窥剩柿拭蛹竖脸誊键靡换片陀第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析