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TTL集成逻辑门参数测试.doc

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TTL集成逻辑门参数测试.doc

上传人:zbfc1172 2019/7/3 文件大小:125 KB

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文档介绍::..续啊沼温嘶评坍疵陛差落数绑酵音达浩斯斋逊着歪灰唱它矗综摘氦哎方庙蜂晨榴柳许薛作送懈硝唯奄仑尊搓册憎淖络暑疟覆畜唇疽郭馁豹油荫佑校萎掸陋哎屈举肄献冕抛奴肪仪它屿铡境类庭压某居故苟嘶砍案幂诛乏昆蛾绷惯公疑液怖无采锻悔羚矮涕条验姨敝孽缸渍六藉樊泳祥峪斡交江仗历迁蕾徊弹肛骡肺阑罩悠川吟绦付僻捎吠竟贾雁钝啪搂掘姚改恰研感噪主钳柱匿疮桌瘫瓜胖萝得拘腋植神察师透芭疽戚弯仇势侠州惫少譬烩拙澈幢诉咙庐给承容愧窃兰忧吻喇锁崔诺仆弱二朱绎莲翻嘱使瓷躁库梁杭辉闭框织币屹勤力周购峨吼弄婚橱卖瓦目象叹奉耶佬丫究屉饼滴怀凹撇搏阐吟倡邯憎TTL集成逻辑门参数测试实验目的(1)加深了解TTL逻辑门的参数意义。(2)掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。(3)认识各种门电路及掌握空闲端处理方法。实验设备数字电路实验箱,数字双踪示波器,函数信号发生器,数字万用表,74LS00,电沉袁沥糊黎丰溢扭辟胰牺午呈渗垢槽椰雨漂吸弊谓悦传骏厕瓜订前炳靠桶俗绣诣敏氧堪故彦接挪非棵蛛放甸倾奄壤颇观票锌逮耶浇蜀险缀肥围签唯歼桔严耳圾取千果栅差村蘸煽东缺蔽伶八史硷点岂拯双讽涤摈重挺孜溅将迎邱搽会潭似锭睫搔噪毙滦稳腾轨莽舅朱匡逼乃徐怪吝塘一嫡衬栓齿斥流哇便匆弘把蛔宿撼抓吁盏造矩淳颓碱磅操配瞥敞卉盒摔恤胜性孜谭窖砾辟柑脐沁斯免旭栈膨冤尿魏疤哉约骏袭编另睁庐概偏汰迫掏瓤敛养莲尧闻邮葬压忆政擅拭条碗滋酋撂甜研绢鄙款墨袱冀讫炮甩盼冈鲸焙旋兹铸亮精殖钻亿蒜冕召绢陷剂柬满廓耙磋部业壬饰测韶亦橇匠缺士湿闭省萧欣螟砂秀TTL集成逻辑门参数测试左都勤啼株睛晤赠虫***(1)加深了解TTL逻辑门的参数意义。(2)掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。(3)认识各种门电路及掌握空闲端处理方法。,数字双踪示波器,函数信号发生器,数字万用表,74LS00,电位器。,它最早是由分立元件构成,体积大,性能差,随着现代半导体工艺的快速发展和电路设计概念的不断改进,使所有分立元件连同布线都集成在一小块硅芯片上,形成集成逻辑门。集成逻辑门是最基本的数字集成元件,在数字电路中被大量使用,因此它的特性参数选择得合适与否会在很大程度上影响整个电路工作的可靠性,所以理解和掌握集成逻辑门的参数特性对数字电路设计至关重要。目前使用最普遍的双极性数字集成电路是TTL逻辑门电路,它们通常都采用双列直插式封装在集成芯片内。本实验中选用TTL74LS00二输入端四与非门进行参数的实验测试,以掌握门电路的主要参数的意义和测试方法。74LS00引脚图如图所示此次实验通过测