文档介绍：PN结正向电压温度特性的测定
实验目的:
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实验原理:
PN结是半导体器件的核心。
P型半导体--以空穴为主要的载流子。
N型半导体—以电子为主要的载流子。
PN结--P型半导体和N型半导体相接触时,在接触处形成的特殊电场区域。
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电子
空穴
n
P
- -
p
偶电层
n
动平衡时 p 型与 n 型接触区域的电势变化
X0
U
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3
动平衡时 p 型与 n 型接触区域的电势变化
P
n
p n
p n
pn 结的伏安特性曲线
Is
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4
温度传感器
接口
计算机
恒流源
电压放大器
PN结
电加热器
电压传感器
输出
图43—1 PN结正向压降温度特性测定线路图
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5
实验方法:
本实验通过电加热的方法提供给PN结一个温度可以变化的热源,利用精确的温度传感器测量温度。把待测的PN结放置热源中,并利用恒流源给定待测PN结一个恒定电流,PN结两端则接入一高稳定放大器进行电压放大后,连接到自定义电压传感器来测量电压。温度传感器和电压传感器测量到的信号分别输入到500型科学工作室接口上,通过串行口与计算机连接,对电压随温度变化的数值进行实时采集。
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6
温度测量方法:
温度测量采用美国PASCO公司提供的温度传感器,其温度输入与电压输出的关系式为
根据上式,利用科学工作室的“实验计算机”功能及“自订传感器”,可以对温度进行实时测量。具体测量方法可参考实验28。
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