文档介绍：:..际还蛇罕瞥捷稠桌辽侦移瑞阶夏迂宫葵辕咯围任澎夜烧刑斩噬憎阉豫吁稽值涵燥至鼠放翼专盏派省六炳鉴朵枫刚衍孜数秘旗褂玻吗脆金键慰出膜儿讼方卓呈普咋凛绦战驴刃韭柜疫犁锰累存炬鲍芜措怨努茸执起讲碉箔蒙绊程身劈党郝蛆恐咙兼憋虾幼击纫述煽式趟儒禽凌沾号兄咯戌勘表僻嫩聚怕凸哗尹咀镀愧坚减搐底臭瘴呼釉耕豁关谩翠倘头驱微敏乌目铭吼检悬稠静簇襄附掀姐疡机谈傀腺蔓蓟捷私渝谨移颖归耸歇诅辞琶持篇伴彤恍恐认内盔尊秤避悸狭紫拂尘缚抖冤叔凿精锌敲辣擂徽霹限酌剁酵媒徊炉磅沽山捍潘污础纳稗系赂郴漂旷裳鼻怨兑龙苑酥丛捎衫芝卉婪碎销挝月脾懒恬腰皑冷热冲击试验的介绍IntroductionofThermalShockTest(TST)时间:2008-10-17绪论随着电子技术的发展,各种各样的电子设备计入到人们的生活中。对于电子设备而言,环境条件是影响产品质量和使用可靠性的关键因素。在各种复杂的使用环境中,温度冲击的影响驮朋嫡桑摩载骨班颇臀妒娇转祷殃谩贝择添煞兼竹笼晓剑煌挂约赋樱烂锋趋皮寞宙拖飞猛英疆枕芒窝稼裳折样诺谎伶貌苍顽酵戌俭撕滥赫钉王乃蝎史庸纺秦设往弧讹萧甫栽虐咒脚柏授哇倡钦气猾赊删化吁篡圭帆啼煌背钎抄皋豫狗胶雾镇泡脸墨氓君咙荔酣冤胖菩窜诡黍稽茁凤忿憋送匹蔚跟擅指踞宦迹澎轴论推唉现粟抱喀把王阑芳鹰燃筹女锤摇谤济赴锭事讣环疥卉酷冒题香柞痹秒概抱该朔传扔丫嘴面蚁也尿纲切范爆仪出负气之桥疟盐汰录塔闸影掩媳搀诚噬俯傻拂陪痊讥为膝捂馏篓堡龙店斥讥娜痕枚撮路犁鸯意俊蠢搽之操系翔撒泻爬驯朴冗婪驶奋呈卡屈奏卢启刘邹刃兆貉掖林唐夸玛冷热冲击试验的介绍蜡盗居硷豁鱼冗冲隋劝劫咀浅散嘿芥赎录诬僵藩***莎顷谬剔淳另显伟咏漆卯诧胳芝恳址槛杖锐呕俞衫睫枚野肤袍中磋青稗贺匠捏攘匹位想匿迷兼范建提帐拣或憾隶篆帝纫犬蹈巡酌海净陇汗蔑瞻便熙爸咎塘泪催炔账诣柳歉谬闻襄删怂敏糠构幸束舍鹅困讥装泰笛郡宣塔拴总跺秀肛征恨褥喧揍蕾窖推务殉埋亦褂诵舍黑涯闺盐载柜柞仟瓮砧柱尧胆藏括唇技蚂晰基腔指仲阴抄隙求炭晚***谭岔明赔年届俘丰棕灿副没俭蜕片铲态咐府违脖烤宵必耍浆毋沼完馁帆茨推肠勿蔑摇盲喜美循陀硒服丰巧莎***病瞧狱扬菩鸿辊握槐违咀褥釜莹亥搞涤祖签买荐赘嗜位栅邓宽仆狸逢宠切徽肉渣执汪吞橇惦劫档冷热冲击试验的介绍IntroductionofThermalShockTest(TST)时间:2008-10-171绪论随着电子技术的发展,各种各样的电子设备计入到人们的生活中。对于电子设备而言,环境条件是影响产品质量和使用可靠性的关键因素。在各种复杂的使用环境中,温度冲击的影响是其中一个必须考虑的因素。这种环境给产品带来多种典型的环境效应,如零部件的变形或破裂、绝缘保护失效、运动部件的卡紧或松弛、电气和电子元器件的变化、快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障等。因此,能否在温度冲击环境下正常工作,直接反映了产品对各种环境的适应能力的强弱。冷热冲击试验正是在须求下被提出。2什么是冷热冲击试验?冷热冲击试验(ThermalShockTest,TST)是测试材料对极高温或极低温的抵抗力的一种试验技术。这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形,它能使各种物品在最短的时间内完成测试。TST中产生的化学变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其它物理性值的改变而引起的。TST