文档介绍：实验三 TTL与CM0S集成逻辑门的参数测试一、“与非门”主要参数的意义及测试方法。“与非门”主要参数的意义及测试方法。、CMOS器件的使用规则。二、实验原理在数字电路设计时,要使用各种门电路。门电路的参数的好坏,在很大程度上影响整机的性能和可靠性。本实验通过测试TTL型74LS00和CMOS型CD4011两种四2输入与非门的主要参数,掌握两类常用门电路的主要参数和测试方法。74LS00和CD4011集成电路外引脚排列图如图3-1(a)、(b)所示。门电路的参数按时间特性分为两种:静态参数和动态参数。静态参数指电路处于稳定的逻辑状态下测得的参数;而动态参数则指逻辑状态转换过程中与时间有关的参数。本讲义介绍的门电路参数和测试方法系根据“中国电子技术标准化研究所”出版的《标准集成电路数据手册》系列中《TTL电路》、《TTL电路增补本》、《CMOS4000T》和《高速CMOS电路》材料编写,-84《半导体集成电路总规范》。(一)。 推荐工作条件 型号参数名称7400系列74LS00系列单位   2  V输入低电平电压VIL      -400  -400μA输出低电平电流IOL  16  8mA                 、H。与非门处于不同的工作状态时,电源提供的电流是不同的。ICCL是指输入全部高电平,输出为低电平且空载时,电源提供给器件的电流。ICCH是指每个门各有一个以上输入端为低电平(或接地),输出为高电平和空载时,电源提供给器件的电流。L>ICCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。=VCC·ICCL(PCC—空载导通功耗指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功耗,VCC—电源电压)。手册提供的电源电流和功耗值是指整个器件的电源电流和总的功耗。H测试电路如图3-3(a)所示。【注意】TTL器件对电源电压要求较严格,只许在+5V±10%的范围内,,。、其余输入端悬空时,流经此输入端的电流值。(注:实验中可将输入端接地,这时测得为输入短路电流IIS,IIS≈IIL。实际IIS的数值比IIL的数值约大一点)。在多级门电路中,IIL为前级门输出低电平时,后级门的输入端向前级门灌入的电流,它会影响到前级门输出的低电平值(使输出低电平升高)。IIH是被测输入端接高电平,其余输入端接地,流入被测输入端的电流值(也称输入漏电流IIH)。在多级门电路中,IIH是前级门输出为高电平时,流入后级门输入端的电流,它会影响到前级门输出的高电平值(使高电平降低)。由于IIH较小(IIH为μA级,而IIL为mA级),用一般万用表难以测出。IIH、IIL的测量电路如图3-3(b)、(c)所示。输入电流的值越小越好,可使输出门带动较多的同类门电路。、输入低电平电压VILVIH≥2VVIL≤、输出低电平电压VOL:输出高