文档介绍：《半导体光电》2009年6月第30卷第3期罗红娥等: D测量系统的镜头畸变校正新方法罗红娥,陈平,顾金良,夏言,栗保明(南京理工大学弹道国防科技重点实验室,南京210094)摘要: D仪组合体,对空间周期黑白条纹图像照相,,CCD镜头畸变。(两相机间距为1561mm),。实验结果表明,用该方法进行镜头畸变校正后,D。关键词: D;空间周期黑白条纹;镜头畸变校正中图分类号:TP273 文献标识码:A 文章编号:1001-5868(2009)03-0441-DMeasurementSystemLUOHong2e,CHENPing,GUJin2liang,XIAYan,LIBao2ming(NationalDefenceResearchLaboratioryofBassistics,NanjingUniversityofScienceandTechnology,Nanjing210094,CHN)Abstract: (Dcamerasis1561mm): D;spatialperiodicblackandwhitestripes;lensdistortioncalibration0 D技术的飞速发展,D系统在无接触实时测量系统、表面缺陷检测系统及高速运动目标姿态测量系统[425]等方面获得了越来越多的应用。D测量系统一般摄像视场较大,所以物镜大多采用广角镜头。与非广角镜头相比广角镜头畸变较为严重,线放大率随物体的位置离开光轴距离的变化而变化,使得物体经过收稿日期:2008-05-26. [122][3]畸变镜头后成像偏离理想位置,若不进行畸变校正,将会严重地影响测量精度。因此,D测量系统中,必须对镜头畸变进行校正。常用的镜头畸变的校正方法主要有实验法和基于图像的数字校正方法两种。实验法就是借助实验仪器,测出不同视场处的畸变量对畸变进行修正。该方法需使用光具座、同心圆图等特定的仪器,在实际中应用较少。通常使用最多的方法是基于图像畸变校正法,有网格标定法[6]、线阵激光标定法[7]等。网格标定法一般计算量较大,较多应用于机器视觉系统中二维图像・441・SEMICONDUCTOROPTOELECTRONICS [628];线阵激光标定法[7]由于样本数较少,D镜头全镜头畸变情况,校正