文档介绍：(AnalyticLEDchiplifetest)&实验目的:电子产品在规定的工作及环境条件下,进行的工作试验称为寿命试验,又称耐久性试验。随着LED生产技术水平的提高,产品的寿命和可靠性大为改观,LED的理论寿命为10万小时,如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。实验条件:根据LED器件的特点,经过对比试验和统计分析,×~,led显示屏生产厂家丰利源光电开始为您介绍以下芯片的寿命试验条件:1)样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯; 2)工作电流为30mA;3)环境条件为室温(25℃±5℃);4)试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种; ,是加大电应力的寿命试验,其结果虽然不能代表真实的寿命情况,但是有很大的参考价值;寿命试验以外延片生产批为母样,随机抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片,封装成ф5单灯器件,进行为96小时寿命试验,其结果代表本生产批的所有外延片。一般认为,试验周期为1000小时或以上的称为长期寿命试验。生产工艺稳定时,1000小时的寿命试验频次较低,5000小时的寿命试验频次可更低。过程与注意事项对于LED芯片寿命试验样本,可以采用芯片,一般称为裸晶,也可以采用经过封装后的器件。采用裸晶形式,外界应力较小,容易散热,因此光衰小、寿命长,与实际应用情况差距较大,虽然可通过加大电流来调整,但不如直接采用单灯器件形式直观。采用单灯器件形式进行寿命试验,造成器件的光衰老化的因素复杂,可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。样品抽取方式寿命试验只能采用抽样试验的*估办法,具有一定的风险性。首先,产品质量具备一定程度的均匀性和稳定性是抽样*估的前提,只有认为产品质量是均匀的,抽样才具有代表性;其次,由于实际产品质量上存在一定的离散性,我们采取分区随机抽样的办法,以提高寿命试验结果准确性。我们通过查找相关资料和进行大量的对比试验,提出了较为科学的样品抽取方式:将芯片按其在外延片的位置分为四区,分区情况参见图一所示,每区2~3粒芯片,共8~10粒芯片,对于不同器件寿命试验结果相差悬殊,甚至矛盾的情况,我们规定了加严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量加严,而不是试验条件加严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试验结果的结果越准确,但是,抽样数量越多抽样数量过多,必然造**力、物力和时间的浪费,试验成本上升。如何处理风险和成本的关系,一直是我们研究的内容,我们的目标是通过采取科学的抽样方法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。光电参数测试方法与器件配光曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试仪器的计量外,还规定原则上试验