文档介绍：由于所使用的原材料本身固有的缺陷,或是由于制造工业的控制不当引入了缺陷,而这些缺陷会随着时间和应力而诱发电路产生相关的失效。为了在电路提交用户使用前,将有这些缺陷的电路筛选掉。在筛选时,需要对电路施加最大额定工作条件或以上的应力,或施加相等的或更高的灵敏度的等效筛选条件以诱发电路产生失效,并将之剔除。2试验条件老炼试验条件有六种。根据电路类型,工作方式可以选择其中一种条件进行试验。a)稳态、反偏。适用于各类线性和数字电路。b)稳态、正偏。适用于所有数字电路和某些线性电路。c)稳态、功率和反偏。适用于各种数字电路和输入端可以反偏置、输出端可以偏置在最大功耗上(或反过来)的某些线性电路。d)并行激励。适用于各类电路。e)环行振荡器试验。f)温度加速试验。有时,为了加快电路的筛选进程,使电路在大大超过其最高额定温度的环境温度(175~300℃)条件下进行试验。此时,由于温度高,电路异常,不能正常工作。因此必须要特别注意选择偏置线路和条件,以避免对电路造成过应力。图1是稳态模式,采用该模式时应使尽可能多的结都加上规定的电压(正、反偏压)图2是并激模式,采用该模式时,所有电路必须施加合适的激励信号,以尽可能模拟实际应用,而且所有电路均应采用最大的外加负载。激励频率不得小于60Hz。3试验温度和时间在老炼试验中,试验的环境温度至少为125℃(混合电路除外)。也可根据具体情况,提高试验的环境温度,减少试验时间。老炼试验的温度-时间关系如表1所示。在环境温度达到175℃或以上时,试验时必须注意要保证电路不会过热损伤。对于大功率器件,要在其最高额定工作温度下进行老炼试验。当采用环境温度TA为其最高工作环境温度时,试验温度-时间按表1规定。当采用外壳温度TC为其最高工作温度时,如果环境温度高,电路芯片内部的结温就高,加之大功率电路的功耗大产生热量多,从而会使芯片内部的结温进一步升高,。为了避免出现这种情况,这时就可以降低环境温度到某一温度,而不需改变老炼时间。但是必须将电路的结温保持在175~200℃之间。当用外壳温度TC为其最高工作温度时,它与最高环境温度TA、结到外壳表面的热阻(RTH(J-C)、电路功耗PD之间的关系如式1:TA=TC-(RTH(J-A)-RTH(J-C))XPD……①如果知道外壳的最高工作温度,就可根据电路的热阻和功耗求出电路老炼时的最高环境温度。当采用环境温度TA为其最高工作环境温度时,它与结温TJ、结到环境的热阻RTH(J-A)、电路功耗PD之间的关系如式2:TA=TJ-RTH(J-A)XPD……………②如果知道结温、电路从结到环境的热阻、电路功耗,就可以求出电路老炼时的最高环境温度。4试验设备老炼试验设备有烘箱、信号源和电压源等。烘箱是用来给电路提供其工作时所需的环境温度。信号源是用于给电路施加输入激励。电压源用于给电路添加偏压。另外,还要有老炼电路的老化板。5老炼过程老炼试验一般需要七天的时间,而且在这个时间段内,电路不能从烘箱内拿出来(除非在老炼过程中电路发生异常现象,但是缺的老炼时间要按规定补足)。经过老炼的电路由于是模拟了电路的真实运行状态,而且电路又是在工作在其所能承受的最大环境温度中,所以电路本身的电性能参数