文档介绍：南京大学-,可分成三个部分:力检测部分、位置检测部分、反馈系统。在AFM中用一个安装在对微弱力极敏感的微悬臂上的极细探针。当探针与样品接触时,由于它们原子之间存在极微弱的作用力(吸引或排斥力),引起微悬臂偏转。扫描时控制这种作用力恒定,带针尖的微悬臂将对应于原子间作用力的等位面,在垂直于样品表面方向上起伏运动,因而会使反射光的位置改变而造成偏移量,通过光电检测系统(通常利用光学、电容或隧道电流方法)对微悬臂的偏转进行扫描,测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,此时激光检测器会记录此偏移量,也会把此时的信号给反馈系统,以利于系统做适当的调整。将信号放大与转换从而得到样品表面原子级的三维立体形貌图像。AFM的核心部件是力的传感器件,包括微悬臂()和固定于其一端的针尖。根据物理学原理,施加到末端力的表达式为:表示针尖相对于试样间的距离,为的弹性系数,力的变化均能够通过被检测。AFM有三种不同的工作模式:接触模式、非接触模式和共振模式或轻敲模式。本实验采用接触模式:样品扫描时,针尖始终同样品“接触”,即针尖-样品距离在小于零点几个纳米的斥力区域。此模式通常产生稳定、高分辨图像。当沿着样品扫描时,由于表面的高低起伏使得针尖-样品距离发生变化,引起它们之间作用力的变化,从而使悬臂形变发生改变。当激光束照射到微悬臂的背面,再反射到位置灵敏的光电检测器时,检测器不同象限会接收到同悬臂形变量成一定的比例关系的激光强度差值。反馈回路根据检测器的信号与预置值的差值,不断调整针尖一样品距离,并且保持针尖一样品作用力不变,就能够得到表面形貌像。。表面粗糙度的评定参数很多,这里选用轮廓算数平均偏差,微观不平度十点高度,轮廓最大高度作为系统纳米粗糙度测量的三个轮廓高度评定参数。轮廓算数平均偏差为取样长度内轮廓偏距绝对值的算术平均值:其中为基线中线的表面轮廓高度,为所取的轮廓偏距数。微观不平度十点高度是指在取样长度内的5个最大的轮廓峰高的平均值和5个最大的轮廓谷深的平均值之和轮廓最大高度为取样长度内轮廓峰顶线与轮廓谷底线之间的距离:式中分别为第个轮廓峰高和第个轮廓谷深,为取样长度内的峰谷个数。,激光电源,样品台,高压电源,(1)依次开启:电脑-控制机箱-高压电源-激光器。(2)用粗调旋钮将样品逼近微探针至两者间距<1mm。(3)再用细调旋钮使样品逼近微探针:顺时针旋细调旋钮,直至光斑突然向PSD移动。(4)缓慢地逆时针调节细调旋钮并观察机箱上反馈读数:Z反馈信号约稳定在之间(不单调增减即可),就能够开始扫描样品。(5)读数基本稳定后,打开扫描软件,开始扫描。(6)扫描完毕后,逆时针转动细调旋钮退样品,细调要退到底。再逆时针转动粗调旋钮退样品,直至下方平台伸出1厘米左右。(7)实验完毕,依次关闭:激光器-高压电源-控制机箱(8)处理图像,,样品为A4纸。二维图像形貌:三维图像形貌:数据结果为:,没有理论值能够比较,但从实验原理讲还是存在一定的误差。首先,实验中不能保证仪器处于完全静止状态,任何微小振动,比如说话和走动,都能引起图像上出现一道裂缝,所以实验图像不可能完全平整。图像的精细程度与扫描的取样次数有很大关系,实验中为了缩短扫描时间,取样数设置的不是很高,所以实验图像不是很清晰,如果把取样次数调高,那么得到的图像纹理就会很清晰。(1)AFM探测到的原子力的由哪两种主要成分组成?答:一种是吸引力即范德瓦耳斯力,另外一种是电子云重叠而引起的排斥相互作用。(2)怎样使用AFM,才能较好地保护探针?答:仔细调节接触距离,首先进行粗调,不要让探针压迫样品,保持探针与样品1mm,然后进行细调细调的时候观察反射的斑点,以保证探针不压迫样品。(3)原子力显微镜有哪些应用?答:原子力显微镜能够在真空,超高真空,气体,溶液,电化学环境,常温和低温等环境下工作,在研究时可选择适当的环境。在物理学上,AFM能够用于研究金属和半导体的表面形貌、表面重构、表面电子态及动态过程