文档介绍：TianjinKing-berScientificandTechnicalCo.,Ltd,ChinaX射线荧光光谱分析法利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在成分分析方面,X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。简史 ,但由于当时记录和探测仪器水平的限制,无法实现。40年代末,随着核物理探测器的改进,各种计数器相继应用在X射线的探测上,此法的实际应用才成为现实。,此法才开始发展起来。此后,随着X射线荧光分析理论和方法的逐渐开拓和完善、仪器的自动化和计算机水平的迅速提高,60年代本法在常规分析上的重要性已充分显示出来。70年代以后,又按激发、色散和探测方法的不同,发展成为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)两大分支,两者的应用现已遍及各产业和科研部门。仪器 X射线荧光分析仪(见彩图)主要由激发、色散(波长和能量色散)、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处,但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上,两类仪器也有显著的区别。 X射线荧光分析仪按其性能和应用范围,可分为实验室用的X射线荧光光谱仪和能谱仪、小型便携式X射线荧光分析仪及工业上的专用仪器。 X射线荧光光谱仪实验室用的X射线荧光光谱仪的结构见图1。由X射线管发射出来的原级X射线经过滤光片投射到样品上,样品随即产生荧光X射线,并和原级X射线在样品上的散射线一起,通过光阑、吸收器(可对任何波长的X射线按整数比限制进入初级准直器的X射线量)和初级准直器(索勒狭缝),然后以平行光束投射到分析晶体上。入射的荧光X射线在分析晶体上按布喇格定律衍射,衍射线和晶体的散射线一起,通过次级准直器(索勒狭缝)进入探测器,在探测器中进行光电转换,所产生的电脉冲经过放大器和脉冲幅度分析器后,即可供测量和进行数据处理用。对于不同波长的标识X射线,通过测角器以1:2的速度转动分析晶体和探测器,即可在不同的布喇格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。在定量分析中,经过定标器的信号脉冲(分析线强度),可以直接输入电子计算机,进行联机处理而读取分析元素的含量,也可从定标器上读取分析线的强度,然后进行脱机处理。在定性分析中,经过脉冲幅度分析器的信号,可以直接输入计数率计,通过记录器笔录下来,进行定性或半定量分析。在作近似定量分析时,也可以通过数据处理机进行。 X射线荧光能谱仪这种仪器只须采用小型激发源(如放射性同位素和小型X射线管等)、地址:-2102电话:86-22-86800320传真:86-22-86800320邮编:300400Webpage:E-Mail:king-******@TianjinKing-berScientificandTechnicalCo.,Ltd,China半导体探测器〔如硅(锂)探测器〕、放大器和多道脉冲幅度分析器,就可以对能量范围很宽的X射线谱同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定(图2)。而且,由于无需分光系统,样品可以紧靠着