文档介绍：可控硅元器件检验标准1、适用范围:适用于我公司生产电子开关及同类型产品中采用可控硅的基本要求、检验方法、检查水平(TL)、可接收质量水平(AQL)、检验规则。并按相应规定将各种规格可控硅进行选择。2、外观检验: 表1:序号检验项目标准内容验法检方TLAQL%、无沙眼、无废边等缺陷存在。参样品目视S-,无毛边、毛刺等缺陷。参照样品S-、氧化现象,引脚间无搭焊,折弯1次后不能有断裂痕迹。参照样品游标卡尺S-。参照样品S-.-H-IJL心片面积打开可控硅查看芯片应与封样品一致。参照样品及下表参数放大镜S-%,且在引线上端润湿的情况下,焊料能自由流动槽焊法:240°CS-、单向可控硅电参数检验:表2序号检验项目检测方法MCR308TO-92MCR100-8TO-92MCR22-8TO-92YCR02T0-92LILAQL%-=50uAQT-2图示仪N600VN600V>600V3600VS------=,IGT=-=6V,RL二100Q10-100uA10-100uA10-100uA10-100uAS-(tTTVAK=6V,RL=------92MCR100-8TO-92MCR22-8TO-92YCR02T0-92LILAQL%=400V,RGR=1KQ,---°C110°C110°C110°CS-=50uAQT-2图示仪N600VN600V>、双向可控硅电参数检验: 表3:序±J检验项目检测方法MCR97A6TO-92BT134T0-220BT136T0-220BTA06TQ-220ILAQL%--2图示仪IR=50uAN600VN600VN600VN600VS-=------92BT134TO-220