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cmos集成电路制造工艺流程.doc

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文档介绍

文档介绍:陕西国防工业职业技术学院
课程报告
课 程 微电子产品开发与应用
论 文 题 目 CMOS集成电路制造工艺流程
班 级 电子3141
姓名及学号 王京(24#)
任 课 教 师 张喜凤
目录
摘要 2
引言 2
关键词 2
1. CMOS器件 2
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2
3
3
3
3
6. 刻蚀 3
3
4
4
举例 4
CMOS集成电路制造工艺流程
摘要:本文介绍了CMOS集成电路的制造工艺流程,主要制造工艺及各工艺步骤中的核心要素,及CMOS器件的应用。
引言:集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一。硅双极工艺面世后约3年时间,于1962年又开发出硅平面MOS工艺技术,并制成了MOS集成电路。与双极集成电路相比,MOS集成电路的功耗低、结构简单、集成度和成品率高,但工作速度较慢。由于它们各具优劣势,且各自有适合的应用场合,双极集成工艺和MOS集成工艺便齐头平行发展。
关键词:工艺技术,CMOS制造工艺流程
CMOS器件
CMOS器件,是NMOS和PMOS晶体管形成的互补结构,电流小,功耗低,早期的CMOS电路速度较慢,后来不断得到改进,现已大大提高了速度。

CMOS器件也有不同的结构,如铝栅和硅栅CMOS、以及p阱、n阱和双阱CMOS。铝栅CMOS和硅栅CMOS的主要差别,是器件的栅极结构所用材料的不同。P阱CMOS,则是在n型硅衬底上制造p沟管,在p阱中制造n沟管,其阱可采用外延法、扩散法或离子注入方法形成。该工艺应用得最早,也是应用得最广的工艺,适用于标准CMOS电路及CMOS与双极npn兼容的电路。N阱CMOS,是在p型硅衬底上制造n沟晶体管,在n阱中制造p沟晶体管,其阱一般采用离子注入方法形成。该工艺可使NMOS晶体管的性能最优化,适用于制造以NMOS为主的CMOS以及E/D-NMOS和p沟MOS兼容的CMOS电路。双阱CMOS,是在低阻n+衬底上再外延一层中高阻n
――硅层,然后在外延层中制造n阱和p阱,并分别在n、p阱中制造p沟和n沟晶体管,从而使PMOS和NMOS晶体管都在高阻、低浓度的阱中形成,有利于降低寄生电容,增加跨导,增强p沟和n沟晶体管的平衡性,适用于高性能电路的制造。

从MOS工艺集成技术发展历史上看,也经历了从简单到复杂的发展过程,如陆续推出了p沟硅栅MOS工艺、p沟铝栅MOS工艺、n沟硅栅MOS工艺、n沟硅栅E/DMOS工艺、高性能短沟MOS(HMOS)工艺等,它们都各具优劣势,在不同时期、不同领域得到了应用。随着集成电路的集成度提高,功耗问题日益突出,普通MOS工艺已不能满足大规模和超大规模集成系统制造的需要,于是早在1963年开发出