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F 薄膜的制备方法离子束 溅射.pptx

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F 薄膜的制备方法离子束 溅射.pptx

上传人:wz_198613 2021/2/13 文件大小:1011 KB

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F 薄膜的制备方法离子束 溅射.pptx

文档介绍

文档介绍:2. 实验设备:
离子能量:几十~1500ev
3. 优点:
•膜层致密、均匀、减少缺陷
•提高薄膜性能的稳定性(不易吸附气体
或潮气)
•附着好(界面有膜料粒子渗入)
•可分别独立调节各实验参数、控制生
长,以利研究各条件对膜质量的影响。
4. 原因:
•沉积前,先离子轰击基片——溅射表面吸附的污染物,表面除气及净化。
•薄膜形成初期,离子轰击使部分膜料原子渗入基片表层,在界面形成中间薄层——增强附着,改善应力。
•沉积过程中,离子轰击正在形成膜——改善微观结构、膜层更致密。

在基片表面先沉积一层(膜厚﹤1000 )
或几层(每层小于150 )不同物质的膜。(总厚小于 1000 )
用高能重离子轰击膜层,使膜与基片表面混
合,或多层膜之间混合,形成新的表面材料
层。
(二)离子束混合
2. 对离子束的要求:
•离子能量尽量高(200~300keV以上)
•较高的惰性气体离子,如Ar+
3. 特点:
•获得常规冶金方法得不到新材料。
•比离子注入法更经济
用离子源产生的离子束轰击靶表面,把靶表面的靶原子溅射出来沉积在衬底表面
(三)离子束溅射法
(一).直流二极溅射
四 离子溅射镀膜法
(二)射频溅射
(三)磁控溅射
1. 结构原理图

把磁控原理和二极溅射法相结合,用磁场来改变电子的运动方向,并束缚和延长电子的运动轨迹,受正交电磁场作用的电子,在其能量快耗尽时才落到基片上,大大提高气体的离化率。